[发明专利]一种采样分辨率的获取方法及装置和模数转化器

说明书

本发明公开了一种采样分辨率的获取方法及装置和模数转化器。其中，所述采样分辨率的获取方法包括：获取运放电路参数，挡位调整信号DA和采样信号一；根据所述运放电路参数和挡位调整信号，对所述采样信号一S1进行信号处理，获取采样信号二S2；根据所述采样信号一S1和所述采样信号二S2，获取采样分辨率。采用本发明技术方案仅需要一个运放电路和一路挡位调整信号DA即可实现通过DA可以实现档位的快速连续调整，使得在被测信号在全范围内具有更高的分辨率。

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，特别涉及一种采样分辨率的获取方法及装置和模数转化器。

背景技术

现有技术中，在许多应用场合，如高精度数字万用表，需要将5V信号测量到0.02％的精度，即1mV的精度，为了达到这个精度，首先需要有相当分辨率的模数转换器，则至少需要一个14位分辨率的模数转换器，在5V的的基准下，才能分辨出5/(2^14)即0.3mV，这时误差在2个LSB(Least Significant Bit，最低有效位)以内，才能勉强满足精度要求。一般提高分辨率的方法如下：

1、采用更好的AD芯片；

2、采用切换档位的方式。

在发明人实现提高分辨率的方法中，发现现有技术至少存在如下问题：

方法一采用更好的AD芯片，但带来了成本的增加；方法二采用切换档位的方式，但这样大大牺牲了采样速度，而且是有极切换，档位之间不能连续变化，切换瞬间也会产生采样误差。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种采样分辨率的获取方法及装置和模数转化器。

依据本发明的一个方面，本发明提供了一种采样分辨率的获取方法；该方法包括：

获取运放电路参数，挡位调整信号DA和采样信号一；

根据所述运放电路参数和挡位调整信号，对所述采样信号一S1进行信号处理，获取采样信号二S2；

根据所述采样信号一S1和所述采样信号二S2，获取采样分辨率。

其中，所述挡位调整信号为模拟信号。

其中，所述运放电路参数包括：参考电阻Rf和第一电阻R1。

其中，所述采样信号二S2与所述采样信号一S1的关系如下：

S2＝S1*(1+(Rf/R1))-DA*(Rf/R1)；

其中，所述Rf为参考电阻阻值；R1为第一电阻阻值；DA为挡位调整信号的信号值。

依据本发明的另一个方面，本发明提供了一种采样分辨率的获取装置；该装置包括：

信息获取单元，用于获取运放电路参数，挡位调整信号DA和采样信号一；

信号处理单元，用于根据所述运放电路参数和挡位调整信号，对所述采样信号一S1进行信号处理，获取采样信号二S2；

采样获取单元，用于根据所述采样信号一S1和所述采样信号二S2，获取采样分辨率。

其中，所述挡位调整信号为模拟信号。

其中，所述运放电路参数包括：参考电阻Rf和第一电阻R1。

其中，所述采样信号二S2与所述采样信号一S1的关系如下：

S2＝S1*(1+(Rf/R1))-DA*(Rf/R1)；

其中，所述Rf为参考电阻阻值；R1为第一电阻阻值；DA为挡位调整信号的信号值。