[发明专利]放射线图像读取装置有效
申请号: | 202011202643.6 | 申请日: | 2017-10-04 |
公开(公告)号: | CN112235480B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 宫本祐一;高坂正臣 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H04N1/04 | 分类号: | H04N1/04;A61B6/00;G02B5/28 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦;黄浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 图像 读取 装置 | ||
1.一种放射线图像读取装置,其特征在于,包括:
对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部;
在包含所述扫描线且与所述记录介质的所述表面交叉的检测面内,检测通过所述激励光的扫描从所述记录介质的所述表面放出的信号光的光检测部;和
配置在所述记录介质的所述表面与所述光检测部之间的滤光器,
在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光透射所述滤光器的透射率、和在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述滤光器的透射率,分别比在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度小的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述滤光器的透射率小,
在所述检测面内,所述信号光的检测区域的宽度比所述记录介质的所述表面中的所述激励光的扫描区域的宽度长,
所述规定角度是,在所述检测面内,连结所述扫描区域的一端和所述检测区域的一端的假想线相对于与所述扫描线垂直的方向所成的角度以下,在与所述扫描线平行的方向上,具有相对于所述扫描区域的所述一端的所述扫描区域的另一端,所述检测区域的所述一端位于所述扫描区域的所述另一端的相反侧。
2.如权利要求1所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
在所述检测面内所述扫描区域和所述检测区域处于中央对齐的位置关系的情况下,设所述扫描区域的宽度为W1,所述检测区域的宽度为W2,所述扫描区域与所述检测区域的距离为D,所述规定角度为θ时,其中,W2>W1,
θ=tan-1{(W2-W1)/2D}成立。
3.如权利要求1所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
所述滤光器具有:
玻璃板;
形成于所述玻璃板的一个表面的第1电介质多层膜;和
形成于所述玻璃板的另一个表面的第2电介质多层膜,
在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率、以及在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度大的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率,分别比在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度小的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率小。
4.如权利要求2所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
所述滤光器具有:
玻璃板;
形成于所述玻璃板的一个表面的第1电介质多层膜;和
形成于所述玻璃板的另一个表面的第2电介质多层膜,
在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率、以及在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度大的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率,分别比在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度小的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率小。
5.如权利要求1~4中任一项所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
还包括:光学元件,其配置在所述记录介质的所述表面与所述滤光器之间,具有仅在与所述检测面垂直的面内,使在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光和从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光聚光的功能。
6.如权利要求1~4中任一项所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
所述光检测部包括沿与所述扫描线平行的方向排列的多个光检测元件,
多个所述光检测元件作为一个信道被控制。
7.如权利要求5所述的放射线图像读取装置,其特征在于:
所述光检测部包括沿与所述扫描线平行的方向排列的多个光检测元件,
多个所述光检测元件作为一个信道被控制。
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