[发明专利]一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片

说明书

本发明公开了一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，在保证仪器测量精度及测量设备之间一致性上实现了突破性的创新，采用本发明中的用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片克服了现有射线法颗粒物监测仪器校准周期长、校准膜片制作工艺复杂、在不同地区或不同气候环境下测量值不准的问题；用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片作为监测仪器的一部分，颗粒物监测仪通过测量穿过两张面密度不同的标准膜片的β粒子计数可对设备的um进行校准，从而使仪器测得的颗粒物浓度更加准确。

技术领域

本发明涉及大气颗粒物监测部件领域，具体是一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片。

背景技术

目前大气颗粒物的常用的监测方法有：重量法、射线吸收法、振荡微量天平法。其中的射线吸收法原理为β射线穿过待测定物质后，其强度衰减程度仅与被穿透物质的质量有关，而与其物理、化学性能无关。目前，β射线法已经成为大气环境颗粒物浓度的连续自动监测仪的主要测量方法之一。β射线法测量大气颗粒物浓度的理论公式如式（1）所示：

(1)

式（1）中：

C—大气颗粒物浓度（）；

A—采样时留在滤纸上的尘斑面积，监测设备制成后为确定的定值；

Q—采样流量（L/min）,需与相应的颗粒物切割器匹配，监测设备制成后为确定的定值；

—尘斑采集所用时间，监测设备制成后为确定的定值；

—通过空白滤纸带的β粒子计数值；

—通过采集尘斑后滤纸带的β粒子计数值；

—质量吸收系数，与放射源能量、β射线计数器特性、滤纸带材质等因素有关，监测设备制成后为定值。该值需要通过对仪器进行校准获得。

目前，国内外大多数厂家采用射线法监测仪器与称重法监测仪器比对测试来反演设备的 值，该方法存在比对测试时间长，且受测试过程中设备所处环境影响无法保证对设备进行满量程校准。中国环境科学研究院公布了一种处理滤膜得到校准尘膜的方法以及一种由校准尘膜进行场外校准的方法，该方法通过筛选一批符合特定要求的滤膜作为基体滤膜，在实际环境中处理得到校准尘膜。通过测量采样前后的β粒子计数值，反推出修正系数K，使用修正系数K对射线法颗粒物分析仪进行修正。使用该校准尘膜对射线法颗粒物分析仪校准，校准后射线法颗粒物分析仪所测浓度更加接近于手工浓度。该方法获得校准膜片的操作复杂、周期长，同样也受实际环境中颗粒物浓度等制约，无法批量用于颗粒物监测设备的校准。

发明内容

本发明提供了一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，以解决上述颗粒物监测仪在校准过程中存在校准周期长、膜片制作工艺复杂、校准精度受颗粒物监测仪校准过程中环境制约等问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，其特征在于：包括两种不同面密度的标准膜片，其中一种面密度的标准膜片作为基膜膜片，另一种面密度的标准膜片作为跨度膜片，所述基膜膜片的面密度与颗粒物监测仪器所用的空白滤纸面密度相近或相同，所述跨度膜片的面密度与颗粒物监测仪器在满量程时带尘斑的滤纸面密度相近或相同。

所述的一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，其特征在于：所述的面密度相近是指膜片的面密度与空白滤纸或带尘斑滤纸面密度差值在设定的范围内。

所述的一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，其特征在于：基膜膜片、跨度膜片的面密度均由其质量与面积的比值得到。

所述的一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，其特征在于：所述标准膜片配置有模架和贴膜，模架中开有通孔，标准膜片放置于模架上并完全覆盖通孔，贴膜贴在标准膜片和标准膜片周围的模架上，使标准膜片固定于模架。