[发明专利]一种基于磁学原理的微流控流速探测装置在审
| 申请号： | 202011207190.6 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112362897A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 西安柯莱特信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01P5/00 | 分类号： | G01P5/00;B01L3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高新区高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 磁学 原理 微流控 流速 探测 装置 | ||
1.一种基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于，包括：微流控芯片、柔性层、磁性材料部，所述微流控芯片的表面设有流体通道，所述柔性层包覆所述流体通道，所述柔性层在所述流体通道的入口和出口分别设有开口，所述磁性材料部为条形，所述磁性材料部置于所述柔性层上，所述磁性材料部横跨所述流体通道。
2.如权利要求1所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述磁性材料部中设有缝隙。
3.如权利要求2所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述缝隙置于所述柔性层上所述流体通道的中部。
4.如权利要求3所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述缝隙的截面为梯形。
5.如权利要求4所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：在所述柔性层一侧，所述梯形的底部长；在远离所述柔性层一侧，所述梯形的底部短。
6.如权利要求1-5任一项所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：靠近所述缝隙处，所述磁性材料部细；远离所述缝隙处，所述磁性材料部粗。
7.如权利要求6所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述磁性材料部为软磁材料。
8.如权利要求7所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述缝隙为多个。
9.如权利要求8所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述缝隙置于所述柔性层上所述流体通道的顶部。
10.如权利要求9所述的基于磁学原理的微流控流速探测装置，其特征在于：所述柔性层的材料为聚二甲基硅氧烷。
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