[发明专利]红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法在审

专利信息
申请号: 202011207654.3 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN112630679A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 陈佳;王天太;李云鹏;王立保;王斌 申请(专利权)人: 武汉高芯科技有限公司
主分类号: G01R31/42 分类号: G01R31/42
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 吴静
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 红外 平面 探测器 制冷 组件 性能 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,包括:直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件;其中:

直流电源,分别与制冷探测器和数据采集卡连接,用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电;

制冷探测器,分别与直流电源和数据采集卡连接,用于接收直流电源的供电,还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡;

数据采集卡,分别与直流电源、制冷探测器和上位机数据处理软件连接,用于接收直流电源的供电,采集制冷探测器工作数据,还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件;

上位机数据处理软件,与数据采集卡连接,用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。

2.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,直流电源采用60V三路输出可编程直流电源,其中,电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电,电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电,电源第三通道为数据采集卡供电。

3.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,制冷探测器为四个,直流电源采用两个三路输出可编程直流电源,其中,直流电源第一通道与四个制冷探测器所配制冷机连接,直流电源第二通道与数据采集卡,直流电源剩余四个通道分别与制冷探测器所配芯片连接,同时为四个制冷探测器制冷性能进行测试。

4.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,数据采集卡分为电压采集卡和电流采集卡,电流采集卡与电压采集卡通过RS485串口线与制冷探测器相连,将制冷探测器工作数据返回到上位机数据处理软件。

5.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,制冷探测器工作数据至少包括:制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温,电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。

6.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,上位机数据处理软件还与直流电源连接,通过控制直流电源第一通道来控制制冷探测器所配制冷机的启动和关闭;当制冷机冷头温度达到上位机数据处理软件预设温度后,通过控制直流电源第二通道来实现探测器所配芯片的启动和关闭。

7.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置,其特征在于,还包括:报警器,报警器与上位机数据处理软件连接,当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时,通过报警器实现故障报警。

8.一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法,其特征在于,包括:

开启直流电源,为制冷探测器和数据采集卡进行供电;

用户通过上位机数据处理软件,设置制冷机各项参数后启动软件,制冷探测器所配制冷机开始工作,数据采集卡采集制冷探测器工作数据,上位机采集软件开始实时采集制冷探测器的电流、温度以及转速数据,并将所述数据发送给上位机数据处理软件,在上位机数据处理软件显示电流-时间曲线、温度-时间曲线,转速-时间曲线;

制冷探测器的冷头温度达到预设温度后,探测器所配芯片所对应的电源通道自动开启,使探测器所配芯片实现上电工作,将探测器芯片的功耗以及探测器组件的总功耗均在上位机数据处理软件上实时显示,制冷探测器的降温时间以及焦温稳定时间也在上位机数据处理软件界面上显示,同时将这些数据实时记录和保存;

制冷探测器制冷完成,且测试时间达到预设要求后,上位机采集软件将通过控制电源通道使制冷探测器所配制冷机与探测器芯片断电,上位机采集软件开始测试探测器所配杜瓦的回温时间,上位机测试软件将实时显示冷头温度的温度-时间曲线,并将这些数据实时记录和保存;

当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时,通过报警器实现故障报警,达到对探测器制冷组件的制冷性能测试目的。

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