[发明专利]超声波对射测厚仪及其测厚方法

权利要求书

1.超声波对射测厚方法，其特征在于，包括：

设置两个位于同一水平位置的超声波探头，设定为第一探头和第二探头，测定第一探头和第二探头之间的距离为D；

待测物呈竖直安放在两个超声波探头之间，且待测物垂直于第一探头和第二探头的连线；

启动两个超声波探头，第一探头朝向待测物发射声波，且探测回波，并计算从发射声波至探测回波的时间间隔t1；第二探头朝向待测物发射声波，且探测回波，并计算从发射声波至探测回波的时间间隔t2；

查询超声波在空气中的传播速度C，采用公式计算待测物的厚度d：

d = D–C*（t1+t2）/2。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述传播速度C的查询过程：在第一探头处设置第一温度计，在第二探头处设置第二温度计，第一探头发射声波的同时，读取第一温度计的温度值T1，第二探头发射声波的同时，读取第二温度计的温度值T2，将温度值T1和温度值T2取平局值，得到温度值（T1+T2）/2，查询处于温度（T1+T2）/2时，超声波在空气中的传播速度C。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测物下方设置旋转台，待测物竖直安放在旋转台上，启动第一探头和第二探头时，同时启动旋转台，进行10°～-10°的来回摆动，带动待测物做来回摆动，并测试待测物在各位置时的厚度，取非零最小值，即得到待测物的厚度d。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一探头和第二探头之间设置有轨道，轨道与第一探头和第二探头的连线垂直，所述旋转台安装在轨道上，测试中，沿轨道平移旋转台，测试待测物所有位置的厚度。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述待测物为均匀厚度的平板时，测试中，每次平移旋转台3～4cm，进行一次测试，得到待测物厚度d，将所有得到的厚度d进行求平均值d0，最后得到的d0为待测物的确定厚度。

6.超声波对射测厚仪，其特征在于，包括处理器，以及连接到处理器上的两个超声波探头，两个超声波探头位于同一水平位置，两个超声波探头的探测端正对，处理器上还连接有触摸屏。

7.如权利要求6所述的测厚仪，其特征在于，两个超声波探头之间设置有轨道，轨道上设置有旋转台，旋转台包括底座和设置在底座上的旋转盘，旋转盘通过旋转电机带动旋转，所述底座下方设置有滚轮，底座通过滚轮在轨道上行走，所述旋转电机连接到处理器。

8.如权利要求7所述的测厚仪，其特征在于，所述滚轮通过行走电机带动转动，所述底座上设置有位移传感器，所述行走电机和位移传感器都连接到处理器。

9.如权利要求7所述的测厚仪，其特征在于，所述旋转盘上设置有夹具。