[发明专利]一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路

说明书

本发明提出一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路，包括：FPGA芯片、高速低精度采样回路、低速高精度采样回路及触发控制模块；其中，FPGA芯片根据上位机指令启动高速低精度采样回路或低速高精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样；触发控制模块检测采样点输出的电压信号，当检测到采样点的输出信号发生反转时，触发FPGA芯片选通高速低精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样。本发明能够基于不同采样需求切换具有不同采样速率的采样回路对采样点进行采样，同时设置触发控制模块对采样点进行电压翻转实时检测，当检测到电压翻转时，快速触发FPGA切换至高速低精度采样回路，从而保证能快速响应翻转点的测试。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路。

背景技术

在芯片测试过程中，常需要测量由于芯片内mos类的开关器件在开关状态切换时引起的芯片管脚输出电压翻转。目前采用的通常是单一频率采样方案，即采样速率在采样过程中保持不变，而这种采样方式，很难检测出发生时间极短的电压翻转或毛刺。

发明内容

发明目的：为克服现有技术的缺陷，本发明提出一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路。

技术方案：本发明提出的技术方案如下：

一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路，包括：FPGA芯片、高速低精度采样回路、低速高精度采样回路及触发控制模块；其中，

FPGA芯片根据上位机指令启动高速低精度采样回路或低速高精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样；触发控制模块检测采样点输出的电压信号，当检测到采样点的输出信号发生反转时，触发FPGA芯片选通高速低精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样。

以下还提供了若干可选方式，但并不作为对上述总体方案的额外限定，仅仅是进一步的增补或优选，在没有技术或逻辑矛盾的前提下，各可选方式可单独针对上述总体方案进行组合，还可以是多个可选方式之间进行组合。

可选的，所述低速高精度采样回路包括依次级联的低通滤波器和第一AD采样芯片，低通滤波器输入端连接采样点，第一AD采样芯片输出端连接FPGA芯片。

可选的，所述高速低精度采样回路包括依次级联的电压衰减器、运放滤波电路、差分放大器和第二AD采样芯片，衰减器的输入端连接采样点，第二AD采样芯片的输出端连接FPGA芯片。

可选的，所述高速低精度采样回路的采样速率为1KHz～250KHz。

可选的，所述低速高精度采样回路的采样速率为500KHz～60MHz。

可选的，所述触发控制模块为一个三极管型光电耦合器，包括原边发光二极管和副边光敏三极管，原边发光二极管的阴极接采样点，阳极接供电电压，当采样点输出电压发生翻转，原边发光二极管导通并发光，副边光敏三极管受光后导通并向FPGA芯片输出一个触发电平。

有益效果：与现有技术相比，本发明具有以下优势：

本发明能够基于不同采样需求切换具有不同采样速率的采样回路对采样点进行采样，同时设置触发控制模块对采样点进行电压翻转实时检测，当检测到电压翻转时，快速触发FPGA切换至高速低精度采样回路，从而保证能快速响应翻转点的测试。

附图说明

图1为本实施例的整体结构图；

图2为实施例涉及的具体电路图。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例对本发明作更进一步的说明。但应当理解的是，本发明可以以各种形式实施，以下在附图中出示并且在下文中描述的一些示例性和非限制性实施例，并不意图将本发明限制于所说明的具体实施例。