[发明专利]ToF传感装置及其距离检测方法在审
申请号: | 202011212492.2 | 申请日: | 2020-11-03 |
公开(公告)号: | CN112526535A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 黄勇亮;梅健 | 申请(专利权)人: | 上海炬佑智能科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S17/894;G01S7/4865 |
代理公司: | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人: | 王敏生 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tof 传感 装置 及其 距离 检测 方法 | ||
1.一种ToF传感装置的距离检测方法,其特征在于,所述ToF传感装置包括暗散斑光源以及传感阵列,所述暗散斑光源用于发射具有暗区域的检测光,所述传感阵列包括若干阵列分布的像素单元;所述距离检测方法包括:
采用所述暗散斑光源发射检测光,照射检测视场;
传感阵列接收检测视场内的被测物体的反射光,并产生传感信号;
根据所述传感信号,获取所述传感阵列内亮区域内各像素单元的实际检测值A以及暗斑区域的实际检测值B,所述暗斑区域与所述检测光的暗区域对应,包括暗像素单元;所述暗斑区域以外为亮区域,包括亮像素单元;
根据所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得各亮像素单元的修正检测值A';
根据所述修正检测值A',获取所述亮区域内各亮像素单元对应的被测位置处的距离信息。
2.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述亮区域包括接收到的直接反射光的强度大于平均反射光强度的亮像素单元,所述暗斑区域包括未接收到直接反射光或接收到的直接反射光强度低于平均反射光强度的暗像素单元。
3.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述亮像素单元接收到的反射光强度是临近的暗像素单元接收到的反射光强度的3倍以上。
4.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述暗斑区域均匀分布于所述亮区域内。
5.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述暗斑区域包括一个或多个暗像素单元。
6.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,根据与待修正的亮像素单元最接近的一个暗斑区域的实际检测值B,或者最接近的若干暗斑区域的实际检测值B的平均值,对所述实际检测值A进行修正。
7.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述修正检测值A'=A-B。
8.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,根据在无非直接反射光环境下标定的亮区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系,以及所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得所述修正检测值A'。
9.根据权利要求8所述的距离检测方法,其特征在于,标定所述亮区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系的方法包括:在无非直接反射光环境内的多个测量条件下,获取的亮区域的多个无干扰检测值A0和对应的暗斑区域的多个无干扰检测值B0;通过拟合运算,得到无干扰检测值A0和无干扰检测值B0之间的关系式。
10.根据权利要求9所述的距离检测方法,其特征在于,所述多个测量条件包括:以不同距离照射漫反射平面板。
11.根据权利要求9所述的距离检测方法,其特征在于,所述多个测量条件包括:以不同光强度照射漫反射平面板。
12.根据权利要求9所述的距离检测方法,其特征在于,以关系式B0=γA0进行拟合运算,获得亮区域对暗斑区域的影响系数γ;根据所述实际检测值B和所述影响系数γ,对所述实际检测值A进行修正,得到修正检测值
13.根据权利要求9所述的距离检测方法,其特征在于,以关系式B0=γA0进行拟合运算,获得亮区域对暗斑区域的影响系数γ;根据所述实际检测值B和所述影响系数γ,以及像素单元都在不同光强下的检测值之间的比例系数α,对实际检测值A进行修正,得到修正检测值
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