[发明专利]切割带和切割芯片接合薄膜在审

专利信息
申请号: 202011215646.3 申请日: 2020-11-04
公开(公告)号: CN112778923A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 木村雄大;每川英利;武田公平;植野大树;中浦宏 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: C09J7/29 分类号: C09J7/29;C09J7/30;C09J4/06;C09J4/02;C09J11/06;H01L21/683
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 切割 芯片 接合 薄膜
【权利要求书】:

1.一种切割带,其具备基材层和粘合性比该基材层高的粘合剂层,

通过对所述基材层进行差示扫描量热测定而测得的谱图具有在100℃以上且140℃以下的范围存在顶点的吸热峰,且在该吸热峰中,峰开始点与所述顶点的温度差为40℃以下。

2.根据权利要求1所述的切割带,其中,在所述吸热峰中,所述峰开始点与峰结束点的温度差为60℃以下。

3.根据权利要求1或2所述的切割带,其中,在所述吸热峰中,所述峰开始点的温度为70℃以上。

4.根据权利要求1或2所述的切割带,其中,在所述吸热峰中,峰结束点的温度为150℃以下。

5.一种切割芯片接合薄膜,其具备权利要求1或2所述的切割带、以及粘贴于该切割带的芯片接合层。

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