[发明专利]一种垂直结构深紫外发光二极管及其制备方法在审
申请号: | 202011216444.0 | 申请日: | 2020-11-04 |
公开(公告)号: | CN112310255A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 崔志勇;尉尊康;李勇强;郭凯;薛建凯;张向鹏;张晓娜;王雪 | 申请(专利权)人: | 山西中科潞安紫外光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/24;H01L33/38;H01L33/00 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 张宏伟 |
地址: | 046000 山西*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 垂直 结构 深紫 发光二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)、去除掉深紫外发光二极管的外延结构的P-GaN层(107)的部分区域的全部或一部分;
(2)、在所述P-GaN层(107)的表面沉积一层反射层(201);
(3)、在所述反射层(201)的表面沉积一层粘合金属层(202);
(4)、在所述粘合金属层(202)上结合一层导电基板层(301);
(5)、去除掉所述深紫外发光二极管的外延结构的N-AlGaN层(104)下面的所有层,使所述N-AlGaN层(104)裸露在最外层;
(6)、在所述N-AlGaN层(104)的部分表面上制作电极金属层(401),且使所述电极金属层(401)的位置与所述P-GaN层(107)的所述部分区域相对应。
2.根据权利要求1所述的垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,先通过光刻技术在所述P-GaN层(107)的部分区域的表面制备一定的图形,再利用刻蚀技术蚀刻掉所述P-GaN层(107)上的制备了所述图形的部分。
3.根据权利要求2所述的垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,所述步骤(4)中,通过键合或电镀将所述述粘合金属层(202)与所述导电基板层(301)结合在一起。
4.根据权利要求3所述的垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,所述步骤(5)中,通过激光剥离、化学腐蚀或干法刻蚀去除掉所述深紫外发光二极管的外延结构的N-AlGaN层(104)下面的所有层,使所述N-AlGaN层(104)裸露在最外层。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,进一步包括步骤(7):对所述N-AlGaN层(104)的未制作所述电极金属层(401)的表面进行粗糙化处理。
6.根据权利要求5所述的垂直结构深紫外发光二极管的制备方法,其特征在于,所述粗糙化处理采用化学腐蚀或物理刻蚀进行。
7.一种垂直结构深紫外发光二极管,其包括自下而上设置的N-AlGaN层(104)、多量子阱层(105)、P-AlGaN层(106)和P-GaN层(107),其特征在于,所述P-GaN层(107)的部分区域的全部或一部分被去除掉并在所述P-GaN层(107)的上表面上沉积有一层反射层(201),所述反射层(201)的上表面上沉积有一层粘合金属层(202),所述粘合金属层(202)的上表面上结合有一层导电基板层(301),所述N-AlGaN层(104)的部分下表面上制作有电极金属层(401)且所述电极金属层(401)的位置与所述P-GaN层(107)的所述部分区域相对应。
8.根据权利要求7所述的垂直结构深紫外发光二极管,其特征在于,所述反射层(201)由Ni、Au、Al、Pt、AuSn、ITO、Ti、Cr、DBR、ODR中的一种或多种的组合制成。
9.根据权利要求8所述的垂直结构深紫外发光二极管,其特征在于,所述粘合金属层(202)由Ni、Au、Al、Pt、AuSn、Ti、Cr的任意组合制成。
10.根据权利要求9所述的垂直结构深紫外发光二极管,其特征在于,所述导电基板层(301)由金属或硅制成。
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