[发明专利]一种基于卷积残差学习的单目图像深度估计方法和系统有效

专利信息
申请号: 202011221345.1 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN112396645B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 胡静;张美琦;张旭阳;陈智勇;沈宜帆;高翔 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06T7/543 分类号: G06T7/543;G06V10/80;G06V10/82;G06K9/62
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 胡秋萍;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 卷积 学习 图像 深度 估计 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于卷积残差学习的单目图像深度估计方法,其特征在于,该方法包括:

训练阶段:采用训练集训练深度估计模型,所述训练集中的训练样本为单目图像,标签为对应深度图;所述深度估计模型包括:

致密神经网络,用于提取多尺度特征,其输入为单目图像,输出为N个尺度不同、通道数不同的特征图,N个特征图按照特征尺度从大到小依次为第一特征图C1、第二特征图C2、…、第N特征图CN,这些特征图由下而上,通道增加一倍并且尺度减小一倍;

多尺度特征融合模块,用于对N个特征图进行融合,其输入为N个尺度不同、通道数不同的特征图C1~CN,输出为多尺度融合特征图,具体包括:

特征金字塔网络,其输入为N个尺度不同、通道数不同的特征图C1~CN,输出为N个通道数相同、尺度不同的特征图,金字塔自下而上依次为第一金字塔融合特征图P1、第二金字塔融合特征图P2、…第N金字塔融合特征图PN

反卷积特征融合模块,用于利用反卷积层对每个金字塔融合特征图进行上采样操作,得到N个通道数相同、尺度相同的反卷积融合特征图S1、S2…SN后,将反卷积融合特征图S1、S2…SN沿特征通道维度进行连接,并利用卷积层对连接后的特征图进行平滑操作,其输入为N个金字塔融合特征图,输出为平滑得到的1个指定通道数的多尺度融合特征图;

上采样优化模块,用于利用反卷积层对多尺度融合特征图进行上采样操作,其输入为多尺度融合特征图和原始单目图像,输出为与原始单目图像尺度相同的初始深度图像;

卷积残差学习模块,用于将初始深度图像和原始单目图像连接为特征向量,利用四个串联的卷积层对连接后的特征向量进行深度残差学习,得到轮廓特征图,然后将初始深度图与轮廓特征图相同位置的像素直接相加,其输入为初始深度图像和原始单目图像,输出为相加得到的优化深度图;

应用阶段:将目标单目图像输入至训练好的深度估计模型,得到目标单目图像的优化深度图。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述致密神经网络采用DenseNet121网络。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述致密神经网络末端不包含池化层和全连接层。

4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,卷积残差学习模块中的四个串联的卷积层,前面三个卷积层均为conv+BN+ReLU,stride=1,最后一个卷积层为conv,stride=1。

5.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,输入的单目图像为单目二维RGB图或者灰度图。

6.一种基于卷积残差学习的单目图像深度估计系统,其特征在于,包括:计算机可读存储介质和处理器;

所述计算机可读存储介质用于存储可执行指令;

所述处理器用于读取所述计算机可读存储介质中存储的可执行指令,执行权利要求1至5任一项所述的基于卷积残差学习的单目图像深度估计方法。

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