[发明专利]一种阵列基板及其制备方法、显示面板在审
申请号: | 202011223897.6 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN112420741A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 卓毅 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 李新干 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制备 方法 显示 面板 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括
基板;
遮光金属层,设于所述基板上;
缓冲层,设于所述基板上且覆盖所述遮光金属层;
有源层,设于所述缓冲层上,且对应所述遮光金属层,所述有源层包括导体化有源区;
绝缘层,间隔设于所述基板上,且部分覆盖所述有源层;
有源层开孔,设于所述有源层上;以及
若干金属单元,设于所述绝缘层上,且与所述有源层连接;
其中,所述有源层开孔与所述金属单元之间具有一间隙。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,
所述金属单元包括
栅极,设于绝缘层上;以及
源漏极,设于一绝缘层上,位于所述栅极两侧,且与所述有源层连接。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,还包括
缓冲层凹槽,下凹于所述缓冲层,且对应所述有源层开孔;
所述缓冲层凹槽位于所述栅极与源漏极之间。
4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,
所述缓冲层凹槽尺寸与有源层开孔尺寸的相等。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,
所述导体化有源区面积占所述有源层面积的60%~90%。
6.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供一基板;
在所述基板上制备遮光金属层;
在所述基板上制备缓冲层,所述缓冲层覆盖所述遮光金属层;
在所述缓冲层上沉积一层半导体材料,形成有源层;
在所述缓冲层上沉积一层绝缘材料,形成覆盖所述半导体层的绝缘层;
在所述绝缘层对应所述有源层的位置刻蚀绝缘层开孔;
将所述基板进行整面等离子处理,绝缘层开孔对应的有源层形成第一导体化区;
在所述绝缘层上沉积一层金属材料,形成金属层;
通过黄光工艺刻蚀所述金属层形成栅极和源漏极,其中所述源漏极与所述第一导体化区连接,刻蚀所述第一导体化区形成有源层开孔;
采用自对准工艺,保留栅极和源漏极下方的绝缘层,去除绝缘层其他裸露的部分;
将所述基板进行整面等离子处理,部分有源层形成导体化有源区。
7.根据权利要求6所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,
所述金属材料包括Mo,Al,Cu,Ti中的至少一种。
8.根据权利要求6所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,
采用酸性刻蚀液刻蚀所述金属层,其中,所述酸性刻蚀液的PH值大于5.0。
9.根据权利要求6所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,还包括以下步骤:
在所述栅极、源漏极、和所述有源层上制备钝化层;
在所述钝化层对应所述源漏极处刻蚀通孔;
在所述钝化层上制备像素电极,所述像素电极填充所述通孔并连接至所述源漏极。
10.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1-5中任一项所述的阵列基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的