[发明专利]存储介质检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 202011225105.9 申请日: 2020-11-05
公开(公告)号: CN112379832B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 李庆华;余高峰;张宏海 申请(专利权)人: 杭州海康威视数字技术股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G11B20/18
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 杨春香
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 存储 介质 检测 方法 装置
【说明书】:

本申请提供一种存储介质检测方法和装置。本申请中,根据检测请求所指示的检测指标来对存储介质检测,其中检测指标包括:存储介质的使用情况、和/或存储介质的槽位连接情况、和/或已记录的所述存储介质发生的历史事件情况。由此,本申请新增了多项检测指标,可以更加全面地对存储介质进行检测。此外,本申请将各项检测指标对应的存储介质的参数值先转成量化信息,然后再综合起来得到健康指数,进而可以更加全面且直观地评估存储介质是否处于异常状态,使得用户可以及时进行处理,避免存储介质严重损坏而导致数据丢失等问题。

技术领域

本申请涉及存储领域,尤其涉及存储介质检测方法和装置。

背景技术

存储介质是指存储数据的载体,例如硬盘、软盘、光盘、闪存等。存储介质是电子设备中重要的元件。在电子设备的日常使用中,存储介质可能会发生各种异常事件,例如读写数据超时等。其中,有些异常是外部原因导致的,例如人为造成的电子设备振动;有些异常是存储介质本身的故障导致的,例如硬盘出现坏道等。

对于用户而言,很难察觉存储介质轻微的异常,而如果完全忽略这些异常,一旦存储介质出现严重损坏甚至数据丢失,会带来较大的损失。

发明内容

有鉴于此,本申请提供一种存储介质检测方法和装置。

具体地,本申请是通过如下技术方案实现的:

根据本申请实施例的第一方面,提供一种存储介质检测方法,所述方法包括:

接收对存储介质的检测请求;依据所述检测请求中的各项检测指标,确定与各检测指标对应的所述存储介质的参数值;所述检测指标至少包括:存储介质的使用情况、和/或存储介质的槽位连接情况、和/或已记录的所述存储介质发生的历史事件情况;

依据各检测指标对应的所述存储介质的参数值,确定各检测指标对应的所述存储介质的量化信息;

基于各检测指标对应的所述存储介质的量化信息,确定所述存储介质的健康指数,当所述健康指数小于或等于设定健康指数阈值,则确定所述存储介质异常。

根据本申请实施例的第二方面,提供一种存储介质检测装置,所述装置包括:

指标确定单元,用于接收对存储介质的检测请求;依据所述检测请求中的各项检测指标,确定与各检测指标对应的所述存储介质的参数值;所述检测指标至少包括:存储介质的使用情况、和/或存储介质的槽位连接情况、和/或已记录的所述存储介质发生的历史事件情况;

信息确定单元,用于依据各检测指标对应的所述存储介质的参数值,确定各检测指标对应的所述存储介质的量化信息;

异常确定单元,用于基于各检测指标对应的所述存储介质的量化信息,确定所述存储介质的健康指数,当所述健康指数小于或等于设定健康指数阈值,则确定所述存储介质异常。

根据本申请实施例的第三方面,提供一种电子设备,包括:

处理器;

用于存储处理器可执行指令的存储器;

其中,所述处理器通过运行所述可执行指令以实现如上述第一方面所述的方法。

根据本申请实施例的第四方面,提供计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述方法的步骤。

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