[发明专利]放大器芯片预匹配测试装置及测试系统

说明书

本发明提供了一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统，在测试电路板上设置有测试电路，测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线，宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联，放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上，输入阻抗变换线的阻抗沿第一同轴微带转换器至放大器芯片的方向逐渐减小，以将输入阻抗降低并加载至放大器芯片上，输出阻抗变换线的阻抗沿放大器芯片至第二同轴微带转换器的方向逐渐增大，以将输出阻抗提高后输出。本发明采用输入阻抗变换线及输出阻抗变换线进行阻抗变换，使得测试装置的阻抗和放大器芯片的阻抗匹配，提高了测试范围和测试灵敏度。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统。

背景技术

射频放大器芯片广泛的应用于各类收发系统中，是发射机的核心器件。射频放大器芯片在研发过程中，需要对其关键性能进行准确表征测试，从而为放大器芯片的研制提供关键的设计参数。现有的应用于射频放大器芯片的预匹配测试装置的阻抗通常为50欧姆，而待测件放大器芯片的阻抗远小于测试装置的阻抗，通常小于5欧姆。如果测试装置的阻抗和待测件的阻抗相差太大，会导致阻抗失配，在失配状态下输入的大部分射频能量就会被反射回来，无法有效的加载到待测件上；同时待测件产生的射频能量也无法有效的输出到测试装置上，此时测试得到的性能就远小于待测件的真实性能，同时在失配转态下传输线上会形成驻波，有损坏待测件和测试夹具的风险。

综上，现有的放大器芯片预匹配测试装置存在的问题为：测试范围窄、测试灵敏度低，无法准确地反映出放大器芯片的真实性能，存在损坏待测件和测试夹具的风险。

发明内容

本发明的目的在于提供一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统，以扩大放大器芯片预匹配测试的测试范围，提高测试灵敏度，保障待测件和测试夹具的安全性。

为了达到上述目的，本发明提供了一种放大器芯片预匹配测试装置，包括：

底座，用于承载测试电路板；

测试电路板，所述测试电路板上设置有测试电路，所述测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线，所述宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联，所述输入阻抗变换线及所述输出阻抗变换线之间的测试电路板向下凹陷形成容置空间，放大器芯片设置于所述容置空间中，且所述放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在所述输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上；

第一同轴微带转换器，位于所述底座的一侧，用于将射频输入信号耦合至所述宽带隔直电容中；

第二同轴微带转换器，位于所述底座的另一侧，用于将所述输出阻抗变换线输出的测试信号耦合出；

所述输入阻抗变换线的阻抗沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐减小，所述输出阻抗变换线的阻抗沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐增大。

可选的，所述输入阻抗变换线的宽度沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐增大，所述输出阻抗变换线的宽度沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐减小。

可选的，所述测试电路还包括宽带供电电路，所述宽带供电电路包括直流电源接口及宽带射频扼流圈，所述宽带射频扼流圈的一端与所述直流电源接口连接，所述放大器芯片的供电端搭接在所述宽带射频扼流圈的另一端，所述直流电源接口连接一直流电源，当所述放大器芯片与所述测试电路板的电连接时，所述直流电源为所述放大器芯片供电。

可选的，所述第一同轴微带转换器及所述第二同轴微带转换器同轴设置。

可选的，还包括压接机构，所述压接机构用于压接所述放大器芯片，以实现所述放大器芯片与所述测试电路板的电连接。