[发明专利]一种确定目标对象的方法、装置、计算机设备和介质有效
申请号: | 202011227367.9 | 申请日: | 2020-11-06 |
公开(公告)号: | CN112270372B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 刘铁;王净;邵珠宏;尚媛园;丁辉 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G06V10/74 | 分类号: | G06V10/74;G06V10/46;G06V10/50 |
代理公司: | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人: | 张延薇 |
地址: | 100000 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 目标 对象 方法 装置 计算机 设备 介质 | ||
1.一种确定目标对象的方法,其特征在于,包括:
获取待检测图像和基准图像;
利用特征提取在所述基准图像中确定第一特征向量和在所述待检测图像中确定第二特征向量;其中,所述第一特征向量是目标对象所对应的特征向量;
针对所述基准图像中每一个第一特征向量,通过计算所述第一特征向量与所述待检测图像中每一个第二特征向量之间的第一相似度,确定所述第一特征向量在所述待检测图像中的第一候选匹配向量;
针对所述基准图像中每一个第一特征向量,利用所述第一特征向量与所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量之间的第二相似度和相关度,确定所述第一特征向量在所述待检测图像中的目标匹配向量;
基于每一个所述第一特征向量在所述待检测图像中的目标匹配向量所对应的位置,在所述待检测图像中确定出所述目标对象;
所述第一特征向量通过如下步骤计算得到:
利用所述基准图像中每个像素点的位置和尺度,确定所述基准图像中的第一采样点的第一位置;
基于所述第一采样点所对应的梯度直方图,确定所述第一采样点的第一方向;
根据所述第一采样点所对应的第一位置和第一方向,计算所述第一采样点所对应的所述第一特征向量;
所述第二特征向量通过如下步骤计算得到:
利用所述待检测图像中每个像素点的位置和尺度,确定所述待检测图像中的第二采样点的第二位置;
基于所述第二采样点所对应的梯度直方图,确定所述第二采样点的第二方向;
根据所述第二采样点所对应的第二位置和第二方向,计算所述第二采样点所对应的所述第二特征向量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对所述基准图像中每一个第一特征向量利用所述第一特征向量与所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个候选匹配向量之间的第二相似度和相关度,确定所述第一特征向量在所述待检测图像中的目标匹配向量,包括:
基于计算得到的所述第一特征向量和所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量之间的欧氏距离,确定所述第一特征向量与所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量之间的所述第二相似度;
基于计算得到的所述第一特征向量和所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量之间的相关性参数,确定所述第一特征向量与所述第一特征向量在所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量之间的所述相关度;
根据所述待检测图像中每一个第一候选匹配向量所对应的所述第二相似度和所述相关性参数,在所述第一候选匹配向量中确定出与所述第一特征向量最匹配的目标匹配向量。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对所述基准图像中每一个第一特征向量,所述通过计算所述第一特征向量与所述待检测图像中每一个第二特征向量之间的第一相似度,确定所述第一特征向量在所述待检测图像中的第一候选匹配向量,包括:
针对所述基准图像中每一个第一特征向量,通过计算所述第一特征向量与所述待检测图像中每一个第二特征向量之间的第一相似度,确定所述第一特征向量在所述待检测图像中的第二候选匹配向量;
针对每一个第二候选匹配向量,通过计算所述第一特征向量与所述待检测图像中每一个第二候选匹配向量之间的第三相似度,确定所述第二候选匹配向量在所述基准图像中的第三候选匹配向量;
针对所述基准图像中每一个第一特征向量,将包含有所述第一特征向量的所述第三候选匹配向量所对应的第二候选特征向量,确定为所述第一候选匹配向量。
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