[发明专利]一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法

权利要求书

1.一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法，其特征在于：在老化的复合绝缘子样品表面部分区域去除表面老化层，使内部未老化层完全暴露，采用调制光热辐射技术分别测量复合绝缘子表面老化层区域及去除表面老化层后暴露的内部未老化层区域的热扩散率，利用测量的表面老化层热扩散率与内部未老化层热扩散率的比值评估复合绝缘子的老化程度，具体实施步骤如下：

(1)采用机械或化学方法在老化的复合绝缘子样品表面部分区域去除表面老化层，使该区域内部未老化层完成暴露，所去除的表面老化层的去除厚度大于0.1mm，小于1mm，且去除表面老化层后暴露的未老化层区域表面平滑；

(2)采用调制光热辐射技术分别测量并记录老化的复合绝缘子样品表面老化层区域和去除表面老化层后暴露的内部未老化层区域的光热辐射信号的频率特性，即光热辐射信号的幅值-频率变化曲线和相位-频率变化曲线；

(3)将测得的光热辐射信号的幅值-频率变化曲线和相位-频率变化曲线与复合绝缘子热扩散理论拟合，分别得到复合绝缘子样品的表面老化层区域和去除表面老化层后暴露的内部未老化层区域的热扩散率，所用的复合绝缘子热扩散理论对复合绝缘子样品老化层区域采用两层热扩散光热辐射理论，对复合绝缘子样品去除表面老化层后暴露的未老化层区域采用单层热扩散光热辐射理论；

(4)计算复合绝缘子样品的表面老化层区域和去除表面老化层后暴露的内部未老化层区域的热扩散率的比值，并由此对复合绝缘子的老化程度进行评估：热扩散率比值越低，复合绝缘子老化越严重，并且当热扩散率比值低于一定阈值时，可认定复合绝缘子老化严重，需要进行更换。

2.根据权利要求1所述的一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法，其特征在于：所述的调制光热辐射技术采用一束连续调制的激光束照射复合绝缘子样品被测量区域，复合绝缘子样品吸收激光束能量而导致温度上升并产生红外光热辐射，调制的激光照射使复合绝缘子被测量区域的光热辐射信号携带样品的热扩散信息，经由红外探测器探测、锁相放大器记录并通过计算机处理获取复合绝缘子样品被测量区域的热扩散特性信息。

3.根据权利要求2所述的一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法，其特征在于：所述激光束功率可调节，既避免功率过高烧坏复合绝缘子样品，破坏其热扩散特性，也避免功率过低导致光热辐射信号的信噪比低，影响热扩散特性的准确测量。

4.根据权利要求1所述的一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法，其特征在于：所述的热扩散率比值与复合绝缘子老化程度的定量关系和所述的热扩散率比值阈值通过测量不同老化程度复合绝缘子表面老化层区域和内部未老化层区域的热扩散率确定。