[发明专利]一种全自动半导体产品测试装置在审
申请号: | 202011228811.9 | 申请日: | 2020-11-06 |
公开(公告)号: | CN112198159A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 陈能强 | 申请(专利权)人: | 无锡昌鼎电子有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 全自动 半导体 产品 测试 装置 | ||
1.一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,包括测试器本体(1)和测试站(2),所述测试器本体(1)和所述测试站(2)之间通过导线(3)连接;
所述测试器本体(1)正面固定连接有安装平台(4);
所述安装平台(4)远离所述测试器本体(1)的一端通过AOI固定块(5)固定连接有AOI监视器(6);
所述安装平台(4)靠近所述测试器本体(1)的一端固定安装有显示屏(7);
所述AOI监视器(6)和所述显示屏(7)均与所述测试器本体(1)电连接。
2.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述安装平台(4)上沿中线开有若干个调节槽(8),所述AOI固定块(5)与所述调节槽(8)通过螺栓固定连接。
3.如权利要求2所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述AOI固定块(5)及与其固定连接的AOI监视器(6)与所述安装平台(4)垂直连接。
4.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述安装平台(4)上固定安装有遮光罩(9)。
5.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述遮光罩(9)从所述显示屏(7)端开始延伸至所述AOI监视器(6)。
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