[发明专利]一种全自动半导体产品测试装置在审

专利信息
申请号: 202011228811.9 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN112198159A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 陈能强 申请(专利权)人: 无锡昌鼎电子有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 代理人: 杨立秋
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 全自动 半导体 产品 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,包括测试器本体(1)和测试站(2),所述测试器本体(1)和所述测试站(2)之间通过导线(3)连接;

所述测试器本体(1)正面固定连接有安装平台(4);

所述安装平台(4)远离所述测试器本体(1)的一端通过AOI固定块(5)固定连接有AOI监视器(6);

所述安装平台(4)靠近所述测试器本体(1)的一端固定安装有显示屏(7);

所述AOI监视器(6)和所述显示屏(7)均与所述测试器本体(1)电连接。

2.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述安装平台(4)上沿中线开有若干个调节槽(8),所述AOI固定块(5)与所述调节槽(8)通过螺栓固定连接。

3.如权利要求2所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述AOI固定块(5)及与其固定连接的AOI监视器(6)与所述安装平台(4)垂直连接。

4.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述安装平台(4)上固定安装有遮光罩(9)。

5.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述遮光罩(9)从所述显示屏(7)端开始延伸至所述AOI监视器(6)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡昌鼎电子有限公司,未经无锡昌鼎电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011228811.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top