[发明专利]用于行动内存的测试装置以及测试方法

说明书

本发明提供一种用于行动内存的内存测试装置以及内存测试方法。内存测试装置包括主机以及多个测试板。主机提供多个测试流程。所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上。各所述多个测试板包括至少一应用处理器。应用处理器分別一对一方式与对应待测内存芯片直接连接。被启动后的各所述多个测试板的应用处理器接收储存在对应测试板的所述多个测试流程的至少其中之一，并基于所述多个测试流程的至少其中之一对对应待测内存芯片进行测试。

技术领域

本发明涉及一种测试装置以及测试方法，且特别是涉及一种能够对多个待测内存芯片进行测试的内存测试装置以及内存测试方法。

背景技术

一般来说，内存测试装置是利用单一个主板对至少一个待测内存芯片进行测试。为了能够对多个待测内存芯片进行测试，测试装置会由一测试主机同时对多个待测内存芯片进行测试。基于内存芯片的需求量大增，测试装置需要进一步加快对多个待测内存芯片的测试产出量(throughput)，并且还能够用不同的测试条件同时对多个待测内存芯片进行测试。上述需求是本领域技术人员努力研究的课题之一。

发明内容

本发明提供一种内存测试装置以及内存测试方法，能够加快对多个待测内存芯片的测试产出量，并且能够用不同的测试条件同时对多个待测内存芯片进行自动测试。

本发明的内存测试装置用以对多个待测内存芯片进行测试。内存测试装置包括主机以及多个测试板。主机经配置以提供多个测试流程。多个测试板分别耦接于主机以接收所述多个测试流程，并储存所述多个测试流程。所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上。各所述多个测试板包括至少一应用处理器。所述至少一应用处理器分別以一对一方式与所述多个待测内存芯片中的对应待测内存芯片直接连接。所述至少一应用处理器是精简指令集处理器。被启动后的各所述多个测试板的所述至少一应用处理器接收储存在对应测试板上的所述多个测试流程的至少其中之一，并基于所述多个测试流程的至少其中之一对对应待测内存芯片进行测试。

本发明的内存测试方法用以由内存测试装置对多个待测内存芯片进行测试。内存测试装置包括多个测试板。各所述多个测试板包括至少一应用处理器。所述至少一应用处理器是精简指令集处理器。内存测试方法包括：由所述多个测试板储存多个测试流程；将所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式对应设置在多个测试板上，使得各所述至少一应用处理器以一对一方式与所述多个待测内存芯片中的对应待测内存芯片直接连接；以及由被启动后的各所述多个测试板的所述至少一应用处理器接收储存在对应测试板上的多个测试流程的至少其中之一，并基于所述多个测试流程的至少其中之一对对应待测内存芯片进行测试。

基于上述，本发明的内存测试装置以及内存测试方法使待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在多个测试板上，并且应用处理器以一对一方式与对应的待测内存芯片直接连接。因此，应用处理器会直接对对应的待测内存芯片进行一对一测试。如此一来，本发明能够加快对多个待测内存芯片的测试产出量，并且能够由不同的测试条件同时对多个待测内存芯片进行自动测试。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1是依据本发明一实施例所绘示的内存测试装置的装置示意图；

图2是依据本发明一实施例所绘示的内存测试方法的方法流程图；

图3是依据本发明一实施例所绘示的主机的示意图；

图4是依据本发明一实施例所绘示的测试板的示意图；

图5是依据本发明一实施例所绘示的另一内存测试方法的方法流程图。

附图标记说明

100：内存测试装置；

110：主机；