[发明专利]一种扫描调制式激光颗粒度测量装置

权利要求书

1.一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，其特征在于：主要由光强调制准直激光器(1)、主框架(2)、透明样品池(3)、小孔光电探测器(4)、扫描电机(5)以及配套的驱动、采集、信号处理系统组成；

光强调制准直激光器(1)和透明样品池(3)与主框架(2)固连；光强调制准直激光器(1)的输出光垂直照射到透明样品池(3)的工作区域；光强调制准直激光器(1)发出的调制激光照射到透明样品池(3)中的粉末样品上，发生衍射散射，所述衍射散射光被小孔光电探测器(4)接收，用于分析粉末样品的颗粒度。

2.如权利要求1所述的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，其特征在于：光强调制准直激光器(1)发出光强调制的调制准直激光束，作为测量装置的光强交变光源；小孔光电探测器(4)接收到的衍射散射光强信号为交流信号，由窄带交流放大电路放大和检测。

3.如权利要求1所述的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，其特征在于：小孔光电探测器(4)的接收孔大小决定光强分布数据测量的角度分辨力，通过改变该小孔大小实现信号强度和测量分辨力的优化。

4.如权利要求1所述的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，其特征在于：小孔光电探测器(4)在扫描电机(5)的驱动下，绕入射激光束与粉末样品的交点旋转，该过程中连续采集衍射散射光强数据，从而得到该平面上的衍射散射光强随角度变化的分布规律，由此获得粉末样品的颗粒度数据。

5.如权利要求1或2所述的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，其特征在于：光强调制准直激光器(1)的激光光束处于小孔光电探测器(4)的扫描平面内，且扫描轴心位于激光束与粉末样品的交点处。