[发明专利]一种DAB双晶体管时频衔接匹配度在线评定方法

权利要求书

1.一种DAB双晶体管时频衔接匹配度在线评定方法，其特征在于，包括以下步骤：

第一步：搭建时频衔接匹配度在线评定装置，该装置包括高精度电压差分探头一（1）、高精度电压差分探头二（2）、高精度原边电压差分探头（3）、非接触电流探头（4）、中央计算机构（5）、无线模块（6）和上位机（7）；

所述高精度电压差分探头一（1）、高精度电压差分探头二（2）分别电连接DAB两开断时间临近的IGBT驱动极，高精度电压差分探头一（1）连接将关断IGBT的驱动极，高精度电压差分探头二（2）连接将开通IGBT的驱动极；

所述非接触电流探头（4）环接在原边输入端，实时测量DAB原边电流值；

所述高精度原边电压差分探头（3）电连接在DAB原边，实时测量DAB原边输入电压值；

所述中央计算机构（5）外接高精度电压差分探头一（1）、高精度电压差分探头二（2）、高精度原边电压差分探头（3）、非接触电流探头（4），并与无线模块（6）桥接，配合匹配度算法计算双晶体管时频衔接匹配程度；

所述无线模块（6）桥接中央计算机构（5）与上位机（7）通讯交换信息；

第二步：进行DAB双晶体管时频衔接匹配度在线评定，采集外接的高精度电压差分探头一（1）、高精度电压差分探头二（2）、高精度原边电压差分探头（3）、非接触电流探头（4）返回的电参量；

第三步：根据此时测量得到的电参量计算DAB双晶体管时频衔接匹配度评定因子Ω：

式中，T₁为将关断IGBT驱动端高电平开始下降的时间，Ω为DAB双晶体管时频衔接匹配度评定因子，T_ml为将关断IGBT驱动端平波电压平台持续时间，T为测量得到的总操作间隙时间，I_Ps为非接触电流探头（4）返回的将关断IGBT的电平下降时的原边电流瞬时值，U_xj为高精度电压差分探头一（1）测得的将关断IGBT的电平下降时的瞬时电压，U_cypt为将关断IGBT处于平波电压平台时高精度电压差分探头一（1）所测瞬时电压，U_lkpt为将关断IGBT离开平波电压平台时高精度电压差分探头二（2）返回的瞬时电压，U_iymax为最大原边输入电压，t_s为将关断IGBT的开断起始时间，I_G(t)为t时刻非接触电流探头（4）返回的原边电流瞬时值，U_iy为原边输入电压瞬时值，t_e为将开通IGBT的开断完成时间，t为测量时刻；

第四步，对计算得到的DAB双晶体管时频衔接匹配度评定因子进行定域评判：

若Ω∈[0,0.5]，则评定为良好衔接；若Ω∈(0.5,1]，则评定为衔接受阻；若Ω∈(1,+∞)，则评定为开断失控。