[发明专利]一种负压光束控制系统光轴标校方法

权利要求书

1.一种负压光束控制系统光轴标校方法，负压光束控制系统由主镜(1)，第三反射镜(2)，主镜筒(3)，次镜(4)，靶点信标(5)，水平轴(6)，水平轴窗口(7)，信标模块(8)，信标窗口(9)，第五反射镜(10)，第四电调反射镜(11)，第六电调反射镜(12)，第九电调反射镜(13)，标校窗口(14)，标校光源(15)，复合探测器(16)，第十一反射镜(17)，复合探测窗口(18)，第十镜(19)，第八电调反射镜(20)，垂直轴(21)，第七反射镜(22)组成，其特征在于：主镜(1)固定于主镜筒(3)后端，次镜(4)固定在主镜筒(3)前端，第三反射镜(2)固定于主镜(1)前端，水平轴窗口(7)，信标窗口(9)，标校窗口(14)，复合探测窗口(18)密封负压光传输通道，第四电调反射镜(11)，第五反射镜(10)，第六电调反射镜(12)，第七反射镜(22)，第八电调反射镜(20)，第九电调反射镜(13)，第十镜(19)依次排列于负压光传输通道内，信标模块(8)位于信标窗口(9)外侧，标校光源(15)位于标校窗口(14)外侧，第十一反射镜(17)位于复合探测窗口(18)外侧，复合探测器(16)位于第十一反射镜(17)之后，其中，靶点信标(5)可以发射靶点信标光，标校光源(15)可以发射标校光，信标模块(8)既可以探测标校光，又可以发射基准信标光，复合探测器(16)可以探测标校光、基准信标光和靶点信标光，第四电调反射镜(11)，第六电调反射镜(12)，第八电调反射镜(20)，第九电调反射镜(13)均为电动可调节快速反射镜；负压光束控制系统光轴标校过程如下：

第一步，在常压条件下对各镜进行位置及姿态调整，使标校光在信标模块(8)的成像点不划圆，保证光束控制系统光轴与机械轴重合；调整信标模块(8)，使基准信标光在复合探测器(16)的成像点不划圆，当主镜筒(3)指向靶点信标(5)时，记录水平轴(6)及垂直轴(21)的编码器信息，记录靶点信标光在复合探测器(16)的成像位置，并标记为位置一；

第二步，当光束控制系统负压光传输通道处于负压状态后，打开标校光源(15)，使标校光在信标模块(8)成像，同时旋转光束控制系统垂直轴(21)，记录标校光在信标模块(8)成像点的划圆量，调节第八电调反射镜(20)及第九电调反射镜(13)，使标校光在信标模块(8)的成像点与轨迹圆心重合；关闭标校光源(15)，打开信标模块(8)的基准信标光，旋转光束控制系统垂直轴(21)，记录基准信标光在复合探测器(16)的划圆量，调节第六电调反射镜(12)，使基准信标光在复合探测器(16)的成像点与轨迹圆心重合；关闭信标模块(8)，调节水平轴(6)及垂直轴(21)到常压状态时记录的编码器位置，使主镜筒(3)对准靶点信标(5)，调整第四电调反射镜(11)，使靶点信标光在复合探测器(16)的成像位置与常压状态下标记的位置一重合，至此，负压光束控制系统光轴标校完成。