[发明专利]一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备在审
申请号: | 202011238161.6 | 申请日: | 2020-11-09 |
公开(公告)号: | CN112268527A | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 刘武;姚亚星 | 申请(专利权)人: | 北极光电(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 | 代理人: | 刘洋 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用 自动 耦合 反射 玻璃片 角度 设备 | ||
本发明涉及一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备,解决现有玻璃片的倾斜角度测试精度低,难度大,效率低的问题。包括有底座,设于底座上的高度调节组件,第一转轴组件,以及第二转轴组件,通过高度调节组件和第一转轴组件将准直器对应玻片定位工装,然后将90度标准块放置在玻片定位工装上,通过第二电机驱动准直器转动,当准直器发出的光垂直标准块表面时,与准直器相连的耦合器将返回的光传到控制器,控制器计算出此时的第二电机转动的角度θ1,然后将产品放置到玻片定位工装上定位,然后调节准直器发出的光垂直产品表面时,计算出第二电机的转动的角度θ2,然后玻璃片的角度θ3为θ2减θ1,从而自动化检测,测试准确,效率高。
技术领域
本发明涉及光学器件测试领域,尤其涉及一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备。
背景技术
现有的带斜度的玻璃片通常用二次元测试的方式,存在以下问题:1、相机需要配合光源,打出合适的光比较困难,玻璃表面容易透光,背景制作比较困难;
2、 现有二次元测试的方式,测试取点精准度不够,取点不够精确,不同的人员或者同一个人员对同一个产品角度测试,测试的重复性比较差,导致测试的精度大大降低。
3、现有二次元测试的方式对人员测试的要求比较高,需要多次培训,员工需要调光,调焦距,在二次元上取点等动作;
原有测试装置有上述3项的缺陷,造成员工培训周期长、生产效率低、测试效率低、成本高。
发明内容
本发明的目的在于解决现有玻璃片的倾斜角度测试精度低,难度大,效率低的问题。
为解决本发明所提出的技术问题采用的技术方案为:本发明的应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备包括有底座,设于底座上与底座上下移动连接的高度调节组件,设于高度调节组件上水平转动的第一转轴组件,以及设于第一转轴组件上的第二转轴组件,所述的第二转轴组件包括有第二转轴,驱动第二转轴转动的第二电机,以及与第二转轴的一端固定连接的准直器;所述的设备还包括有与所述的准直器连接的耦合器,以及用于将耦合器返回的光进行功率计算的控制器,所述的第二电机与控制器器连接,所述的底座上还设有用于玻璃片定位的玻片定位工装,玻片定位工装对应准直器设置,玻片定位工装上设有可拆卸的90度标准块。
对本发明作进一步限定的技术方案包括:
所述的底座上沿垂直于玻片定位工装的方向设有滑轨,所述的高度调节组件滑动设于水平滑轨上,底座上设有驱动高度调节组件在水平滑轨上滑动的第一丝杆电机驱动机构。
所述的高度调节组件包括有设于底座上的竖直滑轨,设于竖直滑轨上的沿竖直方向滑动的竖直调节座,以及设于底座上的驱动竖直调节座上下滑动的第二丝杆电机驱动机构,所述的第一转轴组件设于竖直调节座上。
所述的第一转轴组件包括有设于高度调节组件上的第一转轴底座,第一转轴底座通过第一转轴与高度调节组件转动连接,高度调节组件上设有驱动第一转轴底座水平转动的涡轮轴电机驱动机构。
所述的第二电机设于第一转轴底座上。
所述的玻片定位工装包括有水平设置的第一玻片定位工装,第一玻片定位工装上设有用于将玻璃片吸附在第一玻片定位工装上的第一吸孔,第一吸孔与第一气泵连接。
所述的玻片定位工装还包括有与水平成角度设置的第二玻片定位工装,对应第二玻片定位工装的侧面设有用于将玻璃片侧面吸附定位的第二吸头,第二吸头与第二气泵连接。
所述的第二玻片定位工装上设有长圆孔,所述的第二玻片定位工装通过穿过长圆孔的螺栓与底座可拆卸连接。
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