[发明专利]一种太阳高度角测量仪器在审

专利信息
申请号: 202011238259.1 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112197740A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 武劭瑄 申请(专利权)人: 武劭瑄
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 李青
地址: 100089 北京市海淀区圣化*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳 高度 测量 仪器
【权利要求书】:

1.一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:包括X形表(1)和暗箱(2),所述暗箱(2)的一端上设有角度可调的镜筒(3),所述镜筒(3)与暗箱(2)之间设有遮光布(4),所述暗箱(2)另一端设有可拆卸的尾板(11),所述尾板(11)靠近竖直中线处设有缝隙(12),所述暗箱(2)的一侧开设有观察窗(5)和条型槽(6),所述条型槽(6)内放置有第一指针(7),所述暗箱(2)内部底侧沿横向中线设有第一刻度线(8),所述第一指针(7)的一端搭设在第一刻度线(8)上,所述第一指针(7)另一端位于暗箱(2)外侧连接有第一激光测距仪(9),所述第一激光测距仪(9)的光线发射方向朝向有镜筒(3)的暗箱(2)的一端,所述暗箱(2)远离镜筒(3)的一端外侧设有第二激光测距仪(10),所述第二激光测距仪(10)的光线发射方向朝向暗箱(2)下方,所述第二激光测距仪(10)靠近暗箱(2)一侧设有第二指针(13),所述第二指针(13)可沿尾板(11)的缝隙(12)上下移动,所述尾板(11)内侧沿竖向中线设有第二刻度线(14),所述暗箱(2)的底部设置三角支架(15)支撑;

所述镜筒(3)的进光端设有遮光罩(22),所述遮光罩(22)中心设有用于小孔成像的小孔(23);

所述X形表(1)的顶端设有X形叉丝(102);

太阳光线,通过照射到X形表(1),通过X形叉丝(102)并透过镜筒(3)进光端的小孔(23)在暗箱(2)内的第一刻度线(8)或第二刻度线(14)上形成像。

2.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述镜筒(3)的两侧均设有一连杆(16)并伸出暗箱(2),所述连杆(16)位于暗箱(2)外侧位置上设有角度调节器(17)。

3.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述暗箱(2)的顶部还设有指南针(18)和水平仪(19)。

4.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述暗箱(2)的底部设有云台(20),所述云台(20)的底部设有用于云台(20)移动的滑轨平台(21),所述三角支架(15)顶部固定于滑轨平台(20)的底部。

5.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述X形表(1)包括稳固座(101),所述稳固座(101)上设有第一支撑杆(103),所述X形叉丝(102)底部设有第二支撑杆(104),所述第二支撑杆(104)底端与第一支撑杆(103)顶端铰接,且铰接处设有紧固螺栓(105)。

6.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述缝隙(12)距离尾板(11)竖直中线2cm。

7.根据权利要求1所述的一种太阳高度角测量仪器,其特征在于:所述X形叉丝(102)采用直径为4mm金属丝制作。

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