[发明专利]核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法

权利要求书

1.一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，所述方法为在以核酸检测的微流控芯片的反应体系中加入荧光显色剂，通过不同反应孔产生的荧光信号值差异，对微流控芯片的检测状态进行判断，包括以下三种中的一种或多种：(1)微流控芯片的正反放置位置；(2)微流控芯片的预加样孔是否加样；(3)核酸模板浓度进行半定量。

2.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，所述荧光显色剂为可以与微流控芯片上的核酸二级结构结合产生荧光信号的非特异性荧光染料。

3.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，所述荧光显色剂为SYBR Green、EvaGreen、Peko Green、pico Green中的一种或多种。

4.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，所述微流控芯片在加入反应体系和荧光显色剂后，需要在20～50℃温度下进行预反应。

5.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，判断微流控芯片正反放置位置的公式为：R＝理论需加样孔荧光信号值/理论未加样孔荧光信号值；当R阈值1，则微流控芯片放置正确，为正放，当R阈值1，则微流控芯片放置有误，为倒置；阈值1优选为0.2～5。

6.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，判断微流控芯片的预加样孔是否加样的公式为：T＝未知孔的荧光信号值/理论已加样孔的荧光信号值；当T阈值2，则未知孔可判断为已加样，当T≤阈值2，则未知孔判断为未加样；阈值2优选为0.1～0.5。

7.如权利要求1所述一种核酸二级结构非特异荧光吸附用于微流控芯片检测的方法，其特征在于，核酸模板浓度进行半定量的方式为：依据不同的微流控芯片所采用荧光显示剂先进行预实验，实验选取已知模板浓度梯度分别进行扩增，导出测试的荧光信号值，对荧光信号值与模板浓度值进行线性拟合，得到拟合公式及曲线后，再用未知模板测试的荧光信号值带入拟合公式，得到近似的模板的浓度值。