[发明专利]地震剖面的分辨率处理方法、装置、设备及可读存储介质在审
申请号: | 202011239273.3 | 申请日: | 2020-11-09 |
公开(公告)号: | CN112305610A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 倪天禄;李国发;何书梅;李皓;曹国明;张思超;周宗良;张会卿;黄芳;任瑞川;郭奇;魏朋朋;燕云;吴吉忠;王文庆 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 李珂珂 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 地震 剖面 分辨率 处理 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
1.一种地震剖面的分辨率处理方法,其特征在于,所述方法应用于地震数据处理服务器中,所述方法包括:
确定与储层对应的第一地震剖面,所述第一地震剖面以第一分辨率对所述储层的地震数据进行表征,所述地震数据包括对所述储层进行地震波实验得到的数据;
根据地震道数据集合以及所述储层的反射结构特征建立剖面处理模型,所述地震道数据集合中包括至少两组地震道数据,所述地震道数据包括在地震波实验中与单个地震道对应的数据;
将所述第一地震剖面输入所述剖面处理模型中,输出得到第二地震剖面,所述第二地震剖面以第二分辨率对所述储层的地震数据进行表征,所述第二分辨率高于所述第一分辨率。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据地震道数据集合以及所述储层的反射结构特征建立剖面处理模型,包括:
确定与所述地震道数据集合对应的子波矩阵集合;
基于所述子波矩阵集合以及所述储层的反射结构特征生成所述剖面处理模型。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定与所述地震道数据集合对应的子波矩阵集合,包括:
确定所述地震道数据集合中的至少两个所述地震道数据;
确定与至少两个所述地震道数据分别相对应的至少两个子波矩阵;
基于至少两个所述子波矩阵确定子波矩阵集合。
4.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述剖面处理模型中还包括反褶积子模型;
所述方法,还包括:
根据所述反射结构特征确定反射结构约束矩阵;
基于所述反射结构特征矩阵构建反褶积目标函数;
基于所述反褶积目标函数生成所述反褶积子模型。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述反褶积目标函数对应有第一约束权重和第二约束权重,所述反褶积字母性中还对应有地震数据列向量;
所述基于所述反褶积目标函数生成所述反褶积子模型,包括:
以所述反射结构特征约束矩阵和所述地震数据列向量的乘积对应所述第一约束权重,以数据列向量对应第二约束权重,生成所述反褶积子模型。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述地震数据集合中包括至少两个地震数据点,所述地震数据点对应有数据采集位置和数据采集时刻;
根据所述反射结构特征确定反射结构约束矩阵,包括:
根据所述地震数据点的所述数据采集位置以及数据采集时刻,确定所述地震数据点对应的反射结构约束参数;
根据所述反射结构约束参数,确定所述反射结构约束矩阵。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述反褶积子模型还对应有对所述地震道数据进行平衡训练的辅助因子。
8.一种地震剖面的分辨率处理装置,其特征在于,所述装置包括:
确定模块,用于确定与储层对应的第一地震剖面,所述第一地震剖面以第一分辨率对所述储层的地震数据进行表征,所述地震数据为对所述储层进行地震波实验得到的数据;
建立模块,用于根据地震道数据集合建立剖面处理模型,所述地震道数据集合中包括至少两组地震道数据,所述地震道数据为在地震波实验中与单个地震道对应的数据,所述剖面处理模型为基于所述地震道数据集合与所述储层的反射结构特征构建的模型;
输入模块,用于将所述第一地震剖面输入所述剖面处理模型中,输出得到第二地震剖面,所述第二地震剖面以第二分辨率对所述储层的地震数据进行表征,所述第二分辨率高于所述第一分辨率。
9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括处理器和存储器,所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集,所述至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的地震剖面的分辨率处理方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集,所述至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的地震剖面的分辨率处理方法。
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