[发明专利]一种探测设备荧光泄漏量检测装置及方法

权利要求书

1.一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，包括时间同步单元、可调脉冲光源、超导单光子探测单元、高精度TDC、数据处理单元、数据展示与输出单元、同步信号接口、被测探测设备光接口；所述的时间同步单元分别与同步信号接口、可调脉冲光源以及高精度TDC连接，所述的可调脉冲光源与被测探测设备光接口连接，超导单光子探测单元与被测探测设备光接口连接，所述的超导单光子探测单元、高精度TDC、数据处理单元以及数据展示与输出单元依次连接；所述的时间同步单元分别向同步信号接口、可调脉冲光源以及高精度TDC发送同步信号，可调脉冲光源发射光脉冲，输入被测探测设备，产生的荧光光子输入到超导单光子探测单元，高精度TDC测量并记录光子到达时间，再通过数据处理单元对到达时间进行分析，统计相对于发光脉冲不同延时的光子计数，分辨光路中各器件反射峰位置，判别荧光光子产生的计数峰位置，并统计荧光光子计数，数据展示与输出单元输出并展示数据处理单元的数据。

2.根据权利要求1所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的被测探测设备为探测器或APD雪崩光电二极管。

3.根据权利要求1所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的数据展示与输出单元输出的数据包括被测探测设备处于工作和不工作两种状态下的测量结果对比。

4.根据权利要求1所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的可调脉冲光源的发光频率和光强均可调。

5.根据权利要求1所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的探测设备荧光泄漏量检测装置还包括环形器，所述的环形器分别与可调脉冲光源、超导单光子探测单元以及被测探测设备光接口连接，可调脉冲光源发射光脉冲，通过环形器输入被测探测设备。

6.根据权利要求5所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的超导单光子探测单元包括偏振分束器、第一超导单光子探测器、第二超导单光子探测器，所述的偏振分束器与环形器连接，所述的偏振分束器将荧光光子分成两路输出，一路输出到第一超导单光子探测器，另一路输出到第二超导单光子探测器，所述的第一超导单光子探测器、第二超导单光子探测器分别与高精度TDC连接。

7.根据权利要求6所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的偏振分束器与第一超导单光子探测器、第二超导单光子探测器之间采用保偏光纤连接。

8.根据权利要求6所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的荧光光子两路输出的偏振态相互正交。

9.根据权利要求6所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的第一超导单光子探测器、第二超导单光子探测器为一个超导单光子探测器的两个不同通道。

10.根据权利要求5所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的超导单光子探测单元包括偏振控制器以及超导单光子探测器，所述的超导单光子探测器与高精度TDC连接，所述的偏振控制器分别与环形器、超导单光子探测器连接，通过调节偏振控制器控制入射超导单光子探测器的荧光光子偏振态。

11.根据权利要求10所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的偏振控制器与超导单光子探测器之间采用单模光纤连接。

12.根据权利要求1至11任一项所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的检测装置还包括制冷单元，所述的超导单光子探测单元安装在制冷单元中。

13.根据权利要求12所述的一种探测设备荧光泄漏量检测装置，其特征在于，所述的制冷单元为封闭式制冷机。