[发明专利]一种借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法有效

专利信息
申请号: 202011240522.0 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112596091B 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 朱晨晨;寇子琦;李绪平;秦川;李亚丽;刘雪娇;蔡国生;尹国强;辛桂利 申请(专利权)人: 中核四0四有限公司
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 吕岩甲
地址: 732850 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 借助 快速 判定 样品 放射性 污染 等级 方法
【权利要求书】:

1.一种借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:

1、对大批量的被测对象进行预处理,将被测对象进行整形处理,形成密度及结构尺寸相对固定的模型;

2、设定γ谱仪的核素库;

3、获取核素库关注核素特征能量峰的前后道址;

4、结合试验确定被测对象不同污染等级限值处的特征能量峰净计数率数值大小,以此作为等级判定的依据,具体方式如下:结合废物的源项,使用标准源配置与被测对象相同或相近的标准测量模型,借助γ谱仪测量该标准测量模型,确定相应的探测效率,以η表示;污染等级的确定是按照对应核素和比活度的方式进行判定的,为此,需要将比活度限值乘以被测量模块的重量,将其转化为活度的形式,对应核素活度以A源,单位Bq表示,对应核素特征能量峰中心位置处的理论净计数率以n1,单位CPS表示,对应核素特征能量峰本底计数率以n本,单位CPS表示,对应特征能量分支比为ξ,通过公式A=(n1-n本)/ξ·η,得出对应核素特征能量峰中心位置处的理论净计数率n1,以此作为对应核素等级判定的限值;确定和设置每一个核素的等级限值对应的净计数率大小;

5、结合特征峰率内净计数率和特征峰道址区间的曲线拟合双重方式快速测量和判定对应特征峰γ核素的污染等级水平;γ谱仪测定核素的放射性活度大小采用峰面积计算方式和峰中心位置处的净计数率两种方式来实现,对于前者,关注核素的特征峰峰形必须相对光滑平整,对于后者,峰中心位置处的净计数率稳定速度很快,相当于γ谱仪探测器作为剂量率测量仪器的响应时间,即在特征能量峰峰形没有完全成型的情况下,峰中心位置处的净计数率早已趋于稳定;为了保证等级判定的准确性,又引入特征峰道址区间的曲线拟合,即在特征峰没有完全形成完备平滑的情况下,通过曲线拟合,计算出特征峰中心处的理论计数率最大值,两种方式叠加,与步骤4中设定的限值计数率进行比较共同判定物质中的对应核素放射性活度比活度大小。

2.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤1:借助自动化设备将被测对象进行整形处理,形成密度及结构尺寸相对固定的模型,以便建立和调用同一个能谱探测效率函数,在测量过程中由计算软件快速的调用。

3.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤2:结合废物源项,设定γ谱仪的核素库。

4.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤4:被测对象不同污染等级包括低放,极低放,解控等级。

5.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤4:使用标准源配置与被测对象相同或相近的标准测量模型,相同或相近指形体结构、材质密度相同或相近。

6.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤4:对于同一核素,其特征能量峰是一致的,特征能量峰的分支比为确定值。

7.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:所述的步骤4:结合国家放射性废物分类的标准,关注的核素库中各个核素对应的等级判定条件存在差异,另外,γ谱仪不同能量位置处的探测效率也存在差异,即需要确定和设置每一个核素的等级限值对应的净计数率大小。

8.根据权利要求1所述的借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法,其特征在于:γ谱仪的测量时间是人为设定的,在借助步骤5双重判定条件快速完成废物等级判定后,可以立即引入软件中断程序,控制或引导传送系统将下一个被测样品或被测对象移动至γ谱仪有效探测位置处后,重新启动和开展又一等级测定工作,以此方式,实现大批量和连续的污染等级判定。

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