[发明专利]一种具有在机测量功能的外圆珩磨机床及测量方法有效

专利信息
申请号: 202011241077.X 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112355880B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 朱祥龙;康仁科;董志刚;李天宇;姚金鑫;陈峰 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: B24B33/10 分类号: B24B33/10
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 鲁保良;李洪福
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 测量 功能 外圆珩磨 机床 测量方法
【权利要求书】:

1.一种具有在机测量功能的外圆珩磨机床,其特征在于:包括床身(15)、主轴箱(1)、珩磨结构(5)、尾座单元、珩磨驱动单元、外径测量单元及数控系统;

所述床身(15)的床头安装主轴箱(1),所述床身(15)中部安装两个直线导轨A(13),所述直线导轨A(13)上方设有珩磨结构(5)和尾座单元,均与直线导轨A(13)滑动连接,所述床身(15)在两个直线导轨A(13)之间设有长凹槽,在长凹槽内安装珩磨驱动单元,所述床身(15)一侧设有测量单元安装台(11),所述测量单元安装台(11)上安装外径测量单元;

所述珩磨结构(5)包括两个珩磨头(19)、两个珩磨头支架(18)、两个直线导轨B(16)、气缸(24)、四个上滑块(17)、珩磨拖板(25)、丝杆螺母支座(22)和下滑块(23),所述珩磨拖板(25)上安装两个直线导轨B(16),每个珩磨头支架(18)下方设有两个上滑块(17),两个上滑块(17)分别与两个直线导轨B(16)滑动连接,所述珩磨头支架(18)通过上滑块(17)沿直线导轨B(16)在X向移动,所述珩磨头(19)与珩磨头支架(18)上部固定连接,所述珩磨头(19)沿直线导轨B(16)在X向移动,所述气缸(24)的缸体和活塞杆分别固定在两个珩磨头支架(18)下方,气缸(24)的伸缩运动带动两个珩磨头(19)沿直线导轨B(16)相向移动;所述珩磨拖板(25)下方固定安装丝杆螺母支座(22);

所述珩磨驱动单元包括丝杆固定座(29)、丝杆(30)、丝杆螺母(31)、电机支座(32)、联轴器(33)和丝杆电机(14),所述丝杆(30)两端分别与丝杆固定座(29)及电机支座(32)的一端连接,所述丝杆电机(14)安装在电机支座(32)的另一端,所述丝杆电机(14)与丝杆(30)之间通过联轴器(33)连接,所述丝杆螺母(31)与丝杆螺母支座(22)固定连接,所述丝杆螺母(31)通过丝杆螺母支座(22)带动珩磨结构(5)在直线导轨A(13)上沿Z向运动;

所述外径测量单元包括上测量仪(27)、下测量仪(37)、测量仪支架(9)、气动滑台(10)、转接板(28)、直线模组(12)和模组电机(3);所述直线模组(12)一端安装模组电机(3),所述气动滑台(10)通过转接板(28)与直线模组(12)连接,所述气动滑台(10)上方安装测量仪支架(9),所述测量仪支架(9)上安装上测量仪(27)和下测量仪(37),所述上测量仪(27)与下测量仪(37)安装位置关于主轴轴线在竖直方向上对称,所述直线模组(12)驱动上测量仪(27)和下测量仪(37)沿Z向移动,所述气动滑台(10)驱动上测量仪(27)和下测量仪(37)沿X向移动;

所述上测量仪(27)及下测量仪(37)的测量形式为比对测量,即测量出标定后的测量仪触头(26)接触工件(4)后相较于标准件所产生的偏移量,所述上测量仪(27)及下测量仪(37)的内部均设有单向气缸,控制测杆(36)的摆动,使得测量仪触头(26)紧靠工件(4)外圆表面;

所述尾座单元包括尾座(7)、尾座拖板(8)、尾座滑块(34)和导轨钳制器(35),所述尾座拖板(8)上方固定尾座(7),所述尾座拖板(8)下方固定四个尾座滑块(34),所述尾座滑块(34)与直线导轨A(13)之间滑动连接;所述导轨钳制器(35)共有两个、分别固定在尾座拖板(8)两侧的下方,所述导轨钳制器(35)随着尾座拖板(8)在直线导轨A(13)上滑动,当尾座单元移动至指定位置后,导轨钳制器(35)锁紧直线导轨A(13),将整个尾座单元固定在直线导轨A(13)上的指定位置。

2.一种具有在机测量功能的外圆珩磨机床的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

A、校准外径测量单元

A1、用双频激光干涉仪测量直线模组(12)的直线度,记录直线模组(12)在工件(4)不同轴截面X1、X2、……、Xm位置处相较于基准水平面的高度偏差值Z1、Z2、Z2……、Zm,偏差值Zm有正负之分,高于基准水平面的偏差值Zm为正,低于基准水平面的偏差值Zm为负;

A2、将校准件装夹至主轴箱(1)与尾座单元之间,校准件标定后的直径记为D,直线模组(12)驱动上测量仪(27)和下测量仪(37)沿Z向移至校准件上指定轴截面处,气动滑台(10)沿X向驱动上测量仪(27)和下测量仪(37)移动至工件(4)测量位,数控系统控制上测量仪(27)和下测量仪(37)两个触头(26)接触到校准件外圆表面,由于上测量仪(27)和下测量仪(37)的测量原理为比对测量,数控系统采集当前轴截面处上测量仪(27)和下测量仪(37)的测量值a0和b0,a0和b0分别为当前上测量仪(27)和下测量仪(37)各自触头(26)相对于标定直径D的偏差值,偏差值有正负之分,位于标定直径D外的测量数据为正值,位于标定直径D内的测量数据为负值;分别将上测量仪(27)和下测量仪(37)在该位置下所测得的a0和b0归零,则上测量仪(27)和下测量仪(37)对量程内任意直径工件(4)所测得的测量值均为相对于标定直径D的偏移值;由此完成外径测量单元对测量直径D的校准;

B、对工件(4)进行在机测量:

B1、通过数控系统控制直线模组(12)驱动上测量仪(27)和下测量仪(37)移动到待测工件(4)X1截面处,气动滑台(10)沿X向移动至工件(4)测量位,上测量仪(27)和下测量仪(37)两个触头(26)接触到待测件外圆表面,由数控系统采集当前轴截面处上测量仪(27)和下测量仪(37)的一组测量数据a11和b11,并记工件(4)当前角度位置为0°;

B2、工件(4)在主轴驱动下旋转θ,按步骤B1测量出该角度方向上的一组测量数据a12、b12;以此类推,主轴带动工件(4)共旋转n=(180°/θ)-1次,上测量仪(27)和下测量仪(37)正好测得工件(4)整个圆周的n组测量数据a11、b11、a12、b12、……a1n、b1n

B3、完成X1截面测量后,数控系统控制直线模组(12)驱动测量仪移动至下一测量位置X2截面处,重复步骤B1-B2的测量操作,得到X2截面处n组测量数据a21、b21、a22、b22、……a2n、b2n;依次类推,直线模组(12)依次驱动测量仪至X3、……、Xm截面处,完成工件(4)各个截面的数据测量;

C、处理测量数据

C1、修正测量数据偏差:由于在不同截面Xm处直线模组(12)在竖直方向上存在高度偏差Zm,引起在不同截面下上测量仪(27)和下测量仪(37)的测量中心在竖直方向上存在相同的偏差值Zm,因此在各截面所测得的数据上加上偏差值Zm,修正该截面上的测量数据,即修正后该截面的测量数据为Amn=amn+Zm,Bmn=bmn+Zm

C2、计算工件(4)直径:对于截面Xm,数控系统通过比对测量法首先根据第一组修正后测量数据Am1和Bm1计算出当前0°下工件(4)的直径Dm1=D+Am1+Bm1=D+am1+bm1+2Zm,再根据第二组修正后测量数据Am2和Bm2计算出旋转θ角度后工件(4)的直径Dm2=D+Am2+Bm2=D+am1+bm1+2Zm;依次类推,主轴带动工件(4)共旋转n=(180°/θ)-1次,并按照前述同样的方法计算出Xm截面下的n组直径值Dm1、Dm2、……、Dmn

C3、剔除无效点:对于截面Xm,首先对该截面下所测量的n组实际直径值Dm1、Dm2……、Dmn取平均值记为Dx,利用下列公式进行计算;对于偏差值Z大于某一数值的直径值实际值Dmn,予以剔除,也相应剔除该组测量数据;

C4、检测工件(4)圆度:将无效点剔除后,将剩余的修正后测量数据按圆度测量方法中的两点法计算,得到Xm截面下工件(4)圆度C,公式如下:

C=Max{Am1,Bm1,Am2,Bm2……Amn,Bmn}-Min{Am1,Bm1,Am2,Bm2……Amn,Bmn}

即剩余修正后测量数据中的最大值减去最小值为工件(4)在Xm截面下的圆度。

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