[发明专利]用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置及测试方法

权利要求书

1.一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其特征在于，其包括两个以上电路功能板、两个以上小机盒和一个机箱，所述机箱内部插有所述小机盒，每个所述小机盒安装一个所述电路功能板，

所述每个电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路，所述微处理器固定在所述电路功能板的中间，所述微处理器经所述电平转换电路与所述存储器相连通，并经所述通信电路与上位机相连通，所述第一采集电路和第二采集电路分布在所述微处理器两侧，其输入均与外部电源相连，其输出均与所述微处理器相连；所述第一采集电路包括第一电源转换电路、第一电源参数检测电路和第一控制电路，所述第二采集电路包括第二电源转换电路、第二电源参数检测电路和第二控制电路，所述第一电源转换电路的输入与外部电源相连，其输出分别与所述第一控制电路和第一电源参数检测电路相连，所述第二电源转换电路的输入与外部电源相连，其输出分别与所述第二控制电路和第二电源参数检测电路相连，所述第一电源参数检测电路和第二电源参数检测电路的输出分别与所述微处理器相连；其中所述电平转换电路包括电平转换芯片和第一外围电路，所述第一控制电路和第二控制电路均包括控制器、负载控制管和第二外围电路，所述通信电路包括RS232接口和第三外围电路，所述第一电源转换电路和第二电源转换电路均包括电源芯片、DC/DC控制器和第四外围电路，所述第一电源参数检测电路和第二电源参数检测电路均包括运算放大器、电压跟随器、采样电阻和分压电阻；

每个电路功能板所实现的电路功能相同，但是不同电路功能板采用不同的芯片型号和封装类型来实现相同的电路功能；

所述机箱包括箱体和控制面板，所述控制面板安装在所述箱体的外部前侧，所述控制面板包括急停开关、接口按钮和航空连接器，所述箱体内部设有多个槽位，每个槽位均设有导槽和锁紧条，每个槽位上经相应的导槽均插有所述小机盒，所述控制面板设有多个所述航空连接器及对应的所述接口按钮，所述航空连接器分别与每个所述电路功能板上的所述通讯电路相连接。

2.根据权利要求1所述的用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其特征在于，所述存储器包括Flash存储器和EEPROM存储器。

3.根据权利要求1所述的用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其特征在于，所述机箱和小机盒均设有密封型和非密封型，所述非密封型设有多个均匀孔；所述机箱表面采用彩色导电氧化工艺处理。

4.一种根据权利要求1-3之一所述的用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置的用于环境适应性水平评价测试方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：

S1、装置进行测试前准备操作：清洗腐蚀试验后的所述电路功能板并打磨其上插针，而后通过所述机箱外部的接头与上位机的串口相连，使用上位机上的串口调试助手向所述电路功能板发送测试命令；

S2、测量并获取测试指标：测试指标包括所述第一采集电路和第二采集电路的输入电压、输入电流、输出电压和输出电流以及所述Flash存储器的存储内容，使用测试工具测量所述第一采集电路和第二采集电路的输入电压和输入电流，使用引线工具连接所述机箱外部的接头并加载负载，使用测试工具测量所述第一采集电路和第二采集电路的输出电压和输出电流并读取所述Flash存储器的存储内容，将获取的测试指标经所述电平转换电路存储至存储器中；

S3、进行环境适应性评价：通过所述微处理器将测试指标经所述电平转换电路从所述存储器中读取，并通过所述通讯电路发送至上位机，根据所测量的测试指标结果，按照环境适应性评价要求进行评价；所述步骤S3中的环境适应性评价具体包括以下子步骤：

S31、若所述第一采集电路和第二采集电路的输出电压值接近于0，其他器件功能正常，则此时所述第一电源转换电路和第二电源转换电路的电压调制功能已经丧失，即所述第一电源转换电路和第二电源转换电路中的所述电源芯片已失效；

S32、若所述Flash存储器的读取内容异常，其他功能正常，则所述电平转换电路中的所述电平转换芯片的功能丧失，与所述电平转换芯片上的引脚腐蚀有关，使得电路通信中断或出现混乱，读取功能丧失；

S33、若所述Flash存储器的读取内容异常，且所述第一采集电路和第二采集电路的输出电压偏高，加载后，所述第二采集电路的负载烧毁，则所述电平转换电路中的所述电平转换芯片的反馈引脚腐蚀，引起电路阻抗增大，反馈信号异常造成输出电压异常

S4、根据包含不同所述芯片的所述电路功能板的测试结果，分别对所述电平转换电路中的所述电平转换芯片与所述第一采集电路和第二采集电路的所述电源芯片进行比较，得出不同分类芯片在相同环境下的抗腐蚀能力，同时分析不同所述芯片的测试能力。