[发明专利]走滑断层分段识别方法及设备在审
申请号: | 202011242306.X | 申请日: | 2020-11-09 |
公开(公告)号: | CN114460642A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 邓兴梁;杨海军;韩剑发;邬光辉;李世银;陈利新;苏洲;李国会;刘永福;袁敬一;姚超;张驰;熊昶;罗海宁 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 李阳;黄健 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 断层 分段 识别 方法 设备 | ||
1.一种走滑断层分段识别方法,其特征在于,包括:
加载目的区的地震数据;
对所述地震数据进行层位解释得到地震剖面图,并在所述地震剖面图中确定走滑断层的目标层位;
按照预设步长沿所述目标层位的断裂带走向测量所述走滑断层的断层两盘的深度;
根据所述断层两盘的深度显示所述断层两盘的第一高差图;
根据所述第一高差图对所述走滑断层进行分段划分,得到第一分段结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照预设步长沿所述目标层位的断裂带走向测量所述走滑断层的断层两盘的深度,包括:
沿所述目标层位的断裂带走向以预设步长等间距选取垂直断裂带的地震剖面;
在所述地震剖面中测量所述目标主断层的隆升或下降的顶点的第一深度;
在所述地震剖面中测量围岩基准面的第二深度;其中,第一深度和第二深度为所述断层两盘的深度。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述断层两盘的深度显示所述断层两盘的第一高差图,包括:
根据所述围岩基准面的第二深度与隆升或下降的顶点的第一深度,确定断层两盘的构造高差;
按照所述预设步长沿所述目标主断层断裂带走向确定目标主断层的断层两盘的第一高差图。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一高差图对所述走滑断层进行分段划分,包括:
根据所述第一高差图的突变部分,对所述走滑断层进行分段划分。
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,还包括:
在所述地震剖面图中确定走滑断层的其他层位;
并在所述其他层位,确定所述断层两盘的第二高差图,并根据所述第二高差图对所述走滑断层进行分段划分,得到第二分段结果;
根据所述第二分段结果对所述第一分段结果进行校验。
6.一种走滑断层分段识别设备,其特征在于,包括:
数据获取模块,用于加载目的区的地震数据;
数据处理模块,用于对所述地震数据进行层位解释得到地震剖面图,并在所述地震剖面图中确定走滑断层的目标层位;按照预设步长沿所述目标层位的断裂带走向测量所述走滑断层的断层两盘的深度;
结果显示模块,用于根据所述断层两盘的深度显示所述断层两盘的第一高差图;根据所述第一高差图对所述走滑断层进行分段划分,得到第一分段结果。
7.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述数据处理模块,具体用于沿所述目标层位的断裂带走向以预设步长等间距选取垂直断裂带的地震剖面;在所述地震剖面中测量所述目标主断层的隆升或下降的顶点的第一深度;在所述地震剖面中测量围岩基准面的第二深度;其中,第一深度和第二深度为所述断层两盘的深度。
8.根据权利要求7所述的设备,其特征在于,所述结果显示模块,具体用于根据所述围岩基准面的第二深度与隆升或下降的顶点的第一深度,确定断层两盘的构造高差;按照所述预设步长沿所述目标主断层断裂带走向确定目标主断层的断层两盘的第一高差图。
9.一种走滑断层分段识别设备,其特征在于,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如权利要求1至5任一项所述的走滑断层分段识别方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如权利要求1至5任一项所述的走滑断层分段识别方法。
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