[发明专利]光线跟踪系统中的多精度水平相交测试有效

专利信息
申请号: 202011245141.1 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112907717B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 格雷戈里·克拉克;史蒂文·克罗塞特;卢克·彼得森;纳赛尔·赛德加提;阿里·拉巴尼 申请(专利权)人: 畅想科技有限公司
主分类号: G06T15/06 分类号: G06T15/06;G06T7/00;G06T7/62;G06F30/392
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 杨佳婧
地址: 英国赫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光线 跟踪 系统 中的 精度 水平 相交 测试
【权利要求书】:

1.一种被配置成执行相交测试的光线跟踪系统,包括:

测试器模块,所述测试器模块用于测试光线与体积的相交,所述测试器模块被配置成接收待测试与所述体积的相交的一个或多个光线的分组,其中所述测试器模块包括:

第一组一个或多个测试器,所述第一组一个或多个测试器被配置成以第一精度水平执行相交测试以提供相交测试结果,其中,对于来自所述第一组一或多个测试器的第一类型的相交测试结果,不需要以大于所述第一精度水平的第二精度水平重新执行相交测试,并且对于来自所述第一组一个或多个测试器的第二类型的相交测试结果,要以所述第二精度水平重新执行相交测试;以及

第二组一个或多个测试器,所述第二组一个或多个测试器被配置成以所述第二精度水平执行相交测试;

其中,所述测试器模块被配置成:

将光线从所接收的分组分配到第一组测试器中的一个,以用于以所述第一精度水平进行与所述体积的相交测试;

识别由所述第一组测试器中的所述一个提供的所述光线的相交测试结果的类型,以确定是否要以所述第二精度水平重新执行所述光线与所述体积的相交测试;以及

如果确定要以所述第二精度水平重新执行所述光线与所述体积的相交测试,将所述光线分配到第二组测试器中的一个,以用于以所述第二精度水平进行与所述体积的相交测试。

2.根据权利要求1所述的光线跟踪系统,其中,所述第一类型的相交测试结果是错过结果,并且其中,所述第二类型的相交测试结果是命中结果。

3.根据权利要求1所述的光线跟踪系统,其中所述第一类型的相交测试结果是命中结果,并且其中所述第二类型的相交测试结果是错过结果。

4.根据权利要求1所述的光线跟踪系统,其中,对于来自所述第一组一个或多个测试器的第三类型的相交测试结果,不以所述第二精度水平重新执行相交测试,其中,所述第一类型是错过结果,所述第三类型是可信命中结果,并且所述第二类型是可能命中结果。

5.根据权利要求4所述的光线跟踪系统,其中,所述第一组测试器中的每一个被配置成基于命中结果有多么接近错过结果来确定是否要对所述命中结果重新执行相交测试。

6.根据权利要求5所述的光线跟踪系统,其中,所述第一组测试器中的每一个被配置成通过针对所述体积的每个剪影边缘确定所述光线与所述体积的剪影边缘之间的最小距离,来确定命中结果有多么接近错过结果。

7.根据权利要求5所述的光线跟踪系统,其中,所述第一组测试器中的每一个被配置成通过针对所述体积的每个剪影边缘确定从光线原点到所述光线与限定该剪影边缘的两个平面相交的两个交点的距离的差值,来确定命中结果有多么接近错过结果。

8.根据任一前述权利要求所述的光线跟踪系统,其中,所述测试器模块被配置成,如果所述相交测试未指示要以所述第二精度水平重新执行所述相交测试,则以第一精度水平处理该相交测试的结果。

9.根据权利要求1-7中任一项所述的光线跟踪系统,其中,所述光线跟踪系统还包括调度器,所述调度器被配置成从所述测试器模块接收相交测试结果,并且将光线调度到分组中,以进行与对应于分层加速结构的节点的体积的相交测试。

10.根据权利要求9所述的光线跟踪系统,其中所述调度器被配置成:

如果针对光线的相交测试的结果指示所述光线与对应于所述分层加速结构中的父节点的体积相交,则调度所述光线,以进行与对应于所述分层加速结构中的为相交父节点的子女的一个或多个节点的一个或多个体积的相交测试。

11.根据权利要求9所述的光线跟踪系统,其中所述调度器被配置成:

如果针对光线的相交测试的结果指示所述光线不与对应于所述分层加速结构中的父节点的体积相交,则不调度所述光线进行与对应于所述分层加速结构中的为相交父节点的子女的一个或多个节点的一个或多个体积的相交测试。

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