[发明专利]基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法

权利要求书

1.基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤a.通过光学多孔径成像系统中的光谱成像设备获得被观测目标或景物的高光谱图像；

步骤b.通过计算机将上述的高光谱图像进行如下处理：

(b1).计算高光谱图像中波段图像的图像质量评价值，并建立评价值和波段图像对应波长的列表数组；

(b2).通过将上述得到的图像评价值列表数组，结合波段图像对应的波长信息，计算出波长信息和图像评价值的变化曲线关系，推导出所对应的平移误差；

步骤c.将步骤b中计算出的平移误差值可进行显示、输入闭环控制算法得到控制信号，再控制主镜的校正系统补偿多孔径成像系统的平移误差。

2.根据权利要求1所述的基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法，其特征在于：该方法利用光学多孔径成像系统中的光谱成像设备获得被观测目标或景物的高光谱图像，根据不同波段的光谱图像在成像时，平移误差对多孔径成像系统的点扩展函数调制程度不同，可通过对光谱图像进行图像质量评价，得到波段图像对应波长和其图像质量评价值关系，同时图像质量评价值的变化反应了点扩展函数受平移误差调制的变化，再根据点扩展函数的变化规律推导出对应的平移误差。

3.根据权利要求1所述的基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法，其特征在于：通过上述步骤，多孔径成像系统能够使用来自扩展景物或目标的光线为光源，进行自身的平移误差测量。

4.根据权利要求1所述的基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法，其特征在于：高光谱成像装置装备在大多数光学对地观测遥感成像系统中，该方法的实现上，对成像系统硬件改动小，该方法根据多孔径成像系统的平移误差对不同工作波长下成像系统点扩展函数的调制变化规律推算出平移误差的大小，具体通过获得的扩展目标的高光谱图像中对应波段的光谱图像的评价值变化规律获得点扩展函数变化规律，点扩展函数变化规律反应了平移误差和对应波段图像的波长间存在的周期变化关系，从而可计算得到被测量的平移误差值，最终实现使用扩展目标进行平移误差探测的目的。