[发明专利]测试用例的处理方法、装置、处理器及电子装置

说明书

本发明公开了一种测试用例的处理方法、装置、处理器及电子装置。该方法包括：获取当前采集到的测试数据，测试数据包括：多个第一测试用例以及多个第一测试用例中每个第一测试用例对应的测试结果，测试结果包括：每个第一测试用例在执行过程中命中的待测软件的代码块和每个第一测试用例在执行过程中检测到的至少一种类型漏洞；基于测试数据计算得到每个第一测试用例的实测概率；构造第二测试用例，并基于实测概率获取第二测试用例的预测概率；利用预测概率与实测概率的比较结果，确定是否将第二测试用例加入测试数据。本发明解决了相关技术中单纯依靠人工测试经验所生成的测试用例需要耗费高昂的人力成本，由此难以符合敏捷开发需求的技术问题。

技术领域

本发明涉及计算机领域，具体而言，涉及一种测试用例的处理方法、装置、处理器及电子装置。

背景技术

目前，在快速迭代、敏捷开发的背景下，无论是过分依赖白盒测试，还是过分依赖黑盒测试，都是会测试结果产生不利影响。每个成功的测试活动通过依赖于对待测对象的先验理解，并在此基础上生成测试用例。然而，单纯依靠人工测试经验所生成的测试用例需要耗费高昂的人力成本，由此难以符合敏捷开发的需求。在进行新特性迭代时，如何设计全新、有效的测试用例进行测试，以及在进行发散测试时，如何在现有测试用例中选择发散基准，均已成为亟待解决的技术难题。

相关技术在开发调试程序的过程中，通常可以使用调试器在软件执行过程中能够记录待测软件已执行过的部分代码。但是，针对测试环节却缺少相应的解决方案。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明至少部分实施例提供了一种测试用例的处理方法、装置、处理器及电子装置，以至少解决相关技术中单纯依靠人工测试经验所生成的测试用例需要耗费高昂的人力成本，由此难以符合敏捷开发需求的技术问题。

根据本发明其中一实施例，提供了一种测试用例的处理方法，包括：

获取当前采集到的测试数据，其中，测试数据包括：多个第一测试用例以及多个第一测试用例中每个第一测试用例对应的测试结果，测试结果包括：每个第一测试用例在执行过程中命中的待测软件的代码块和每个第一测试用例在执行过程中检测到的至少一种类型漏洞；基于测试数据计算得到每个第一测试用例的实测概率；构造第二测试用例，并基于实测概率获取第二测试用例的预测概率；利用预测概率与实测概率的比较结果，确定是否将第二测试用例加入测试数据。

可选地，上述方法还包括：对待测软件中的代码进行分块处理，得到多个代码块。

可选地，基于测试数据计算得到每个第一测试用例的实测概率包括：获取多个代码块中每个代码块在多个第一测试用例中的第一命中频率；获取多个代码块中每个代码块在检测到至少一种类型漏洞中每种类型漏洞的第一测试用例中的出现频率；获取发生至少一种类型漏洞中每种类型漏洞的第一测试用例相对于多个第一测试用例的个数比率；基于第一命中频率、出现频率和个数比率，计算每个第一测试用例在命中每个代码块的条件下发生每种类型漏洞的条件概率，得到每个第一测试用例的实测概率。

可选地，获取多个代码块中每个代码块在多个第一测试用例中的第一命中频率包括：获取多个代码块中每个代码块在多个第一测试用例中的第一命中次数；获取多个代码块在多个第一测试用例中的第二命中次数；计算第一命中次数与第二命中次数的比值，得到第一命中频率。

可选地，获取多个代码块中每个代码块在检测到至少一种类型漏洞中每种类型漏洞的第一测试用例中的出现频率包括：从多个第一测试用例中分别筛选出检测到每种类型漏洞的第一测试用例；统计每个代码块在筛选得到的第一测试用例中的出现频率。

可选地，获取发生至少一种类型漏洞中每种类型漏洞的第一测试用例相对于多个第一测试用例的个数比率包括：获取发生至少一种类型漏洞中每种类型漏洞的第一测试用例的第一用例个数；获取多个第一测试用例的第二用例个数；计算第一用例个数与第二用例个数的比值，得到个数比率。