[发明专利]FPGA嵌入式终端设备比特流攻击检测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种现场可编程逻辑门阵列FPGA嵌入式终端设备比特流攻击检测方法，其特征在于，包括：

获取所述FPGA嵌入式终端设备接收到的比特流数据的镜像数据；其中，所述FPGA嵌入式终端设备接收到的比特流数据包括FPGA嵌入式终端设备的开发和运行生命周期中任一阶段接收到的比特流数据，或者，在任一阶段通过模拟攻击的方式产生的比特流数据；

确定数据帧切分粒度，并基于所述切分粒度对所述镜像数据进行切分，以得到多个数据帧；

基于所述多个数据帧生成所述镜像数据对应的比特流攻击特征集；

基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测；

其中，所述基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测，包括：

对所述镜像数据对应的比特流攻击特征集以及所述已知比特流攻击特征集进行合并，获得攻击检测使用的比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测，检测潜在的恶意攻击。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个数据帧生成所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，包括：

确定切分粒度的筛选阈值，并基于所述切分粒度的筛选阈值对所述多个数据帧进行分类，以确定所述多个数据帧中的有效数据帧和无效数据帧；

对满足关联要求的有效数据帧和无效数据帧进行拼接，以生成所述镜像数据对应的候选比特流攻击特征集；

基于预设的比特流攻击特征长度阈值，对所述镜像数据对应的候选比特流攻击特征集中的候选比特流攻击特征进行筛选，以得到筛选后的候选比特流攻击特征集；

基于最大相关最小冗余的特征筛选准则从所述筛选后的候选比特流攻击特征集选择比特流攻击特征，以生成所述镜像数据对应的比特流攻击特征集。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对满足关联要求的有效数据帧和无效数据帧进行拼接，以生成所述镜像数据对应的候选比特流攻击特征集，包括：

对于任一有效数据帧，利用关联规则挖掘算法确定是否存在与该有效数据帧满足关联要求的目标无效数据帧；其中，所述满足关联要求包括与该有效数据帧的关联度超过预设关联度阈值；

若存在，则对该有效数据帧和所述目标无效数据帧进行拼接，以生成一个候选比特流攻击特征；

若不存在，将该有效数据帧作为一个候选比特流攻击特征。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测，包括：

基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，利用多模式匹配算法，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测。

5.一种现场可编程逻辑门阵列FPGA嵌入式终端设备比特流攻击检测装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取所述FPGA嵌入式终端设备接收到的比特流数据的镜像数据；其中，所述FPGA嵌入式终端设备接收到的比特流数据包括FPGA嵌入式终端设备的开发和运行生命周期中任一阶段接收到的比特流数据，或者，在任一阶段通过模拟攻击的方式产生的比特流数据；

切分单元，用于确定数据帧切分粒度，并基于所述切分粒度对所述镜像数据进行切分，以得到多个数据帧；

生成单元，用于基于所述多个数据帧生成所述镜像数据对应的比特流攻击特征集；

检测单元，用于基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测；

其中，所述基于所述镜像数据对应的比特流攻击特征集，以及已知比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测，包括：

对所述镜像数据对应的比特流攻击特征集以及所述已知比特流攻击特征集进行合并，获得攻击检测使用的比特流攻击特征集，对所述FPGA嵌入式终端设备进行比特流攻击检测，检测潜在的恶意攻击。