[发明专利]存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质。存储校验方法包括：将目标样本序列写入至芯片内待测存储器中的目标存储区域内；从目标存储区域内读出待测序列并采用目标压缩映射方式对待测序列进行压缩映射，得到待测压缩序列，根据所述待测压缩序列，对所述待测存储器的目标存储区域进行存储校验。本发明实施例的技术方案可以大大减少存储验证过程中的计算耗时，加快了整体存储验证过程的验证速度以及比对验证的效率。

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术，具体涉及芯片中存储器的校验技术，尤其涉及一种存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质。

背景技术

随着人工智能时代的到来，催生了各类计算芯片的不断发展。计算芯片上一般配置有一个或多个用于存储程序或指令的存储器，当计算芯片中的计算核需要进行计算时，可以从存储器中读取所需程序进行运行。因此，片上存储器的存储可靠性是影响计算芯片计算准确性的一个重要指标。

存储可靠性，是指写入至芯片中的数据与从芯片中读取出的数据的一致性。现有技术对片上存储进行验证时的通常做法是：从片外向片上存储器传输原始样本数据，再从片上存储器中读出对应的验证样本数据，通过将验证样本数据与原始样本数据进行逐位比对，验证片上存储器中的每个存储单元的可靠性。

发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术的缺陷在于：为了验证存储器中每个存储单元的可靠性，验证样本数据的数据量一般都是很大的，只有在逐位比对结果完全一致时，才能确定全部存储单元的可靠性。因此，逐位比对的方式非常耗时，进而会导致整体存储验证过程的验证速度缓慢，验证效率低。

发明内容

本发明实施例提供了一种存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质，以减少存储验证过程中的计算耗时，提高比对验证效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种存储校验方法，该方法包括：

将目标样本序列写入至芯片内待测存储器中的目标存储区域内；

从目标存储区域内读出待测序列并采用目标压缩映射方式对待测序列进行压缩映射，得到待测压缩序列；

根据所述待测压缩序列，对所述待测存储器的目标存储区域进行存储校验。

第二方面，本发明实施例还提供了一种存储校验装置，该装置包括：

样本存储模块，用于将目标样本序列写入至芯片内待测存储器中的目标存储区域内；

比对结果获取模块，用于从目标存储区域内读出待测序列并采用目标压缩映射方式对待测序列进行压缩映射，得到待测压缩序列；

存储校验模块，用于根据所述待测压缩序列，对所述待测存储器的目标存储区域进行存储校验。

第三方面，本发明实施例还提供了一种计算芯片，包括存储器、至少一个计算核及存储在存储器上并可在计算核上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理核执行所述程序时实现如本发明任一实施例所述的存储校验方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、至少一个处理器及存储在存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如本发明任一实施例所述的存储校验方法。

第五方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被计算核，或者处理器执行时实现如本发明任一实施例所述的存储校验方法。