[发明专利]用于物理吸附仪的低温真空脱气装置及其吸附测试方法在审
申请号: | 202011250455.0 | 申请日: | 2020-11-11 |
公开(公告)号: | CN112504929A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 朱英明 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08;G01N7/04;G01N1/34;G01N1/42 |
代理公司: | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人: | 李鹏 |
地址: | 610064 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 物理 吸附 低温 真空 脱气 装置 及其 测试 方法 | ||
1.一种用于物理吸附仪的低温真空脱气装置,其特征在于,包括保温瓶(2),所述的保温瓶(2)内设有冷却介质(1),保温瓶(2)口部设有隔热塞(3)密封,保温瓶(2)密封连接样品管(4),样品管(4)通过阀门(5)连接干燥管(6),所述的干燥管(6)还连接有真空泵(7)。
2.一种物理吸附测试方法,其特征在于,采用权利要求1所述的用于物理吸附仪的低温真空脱气装置,包括以下步骤:
测得洁净干燥的样品管(4)质量为m0,取适量的待测粉体装入所述样品管(4);将装有待测粉体的样品管(4)固定在等温物理吸附仪的低温真空脱气装置上,在真空度为0.05~0.2Pa和温度为0~-197℃的范围脱气4~24小时,升温至25~35℃,回填高纯氮气至常压;
测得回填高纯氮气后的样品管(4)质量为m1;在液氮中检测待测粉体在第一个时间点的相对压力和第二个时间点的相对压力的条件下对应的第一吸附体积V1和第二吸附体积V2;
最后根据物理吸附模型测得比表面积和孔径分布。
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