[发明专利]一种图像校正方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种图像校正方法，其特征在于，所述方法包括：

对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数；

基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，使所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数之间的图像变换成矩形图像，得到第一校正图像；

基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像；

所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：

对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率K_n，其中，下标n是所述列的列数，K_n表示第n列的校正斜率，K_n等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；

设置所述校正斜率的梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数；

对所述第一校正图像中每列，基于所述校正斜率K_n、所述梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数，在所述列进行像素点插值调整，得到第二校正图像；

或者，所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：

对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率K_n，其中，下标n是所述列的列数，K_n表示第n列的校正斜率，K_n等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；

对所述第一校正图像中每列，n是所述列的列数，计算从第1列到第n列的累计扭曲量f(n)：

其中，f(n)为所述累计扭曲量，K_i为第i列的所述校正斜率；

设置调整步长β，对所述第一校正图像中每列，基于所述累计扭曲量和所述调整步长β进行像素点插值调整，得到第二校正图像。

2.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，使所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数之间的图像变换成矩形图像，得到第一校正图像，包括：

对所述待校正图像中每列像素点，设置上端参考点坐标(x，y01)和下端参考点坐标(x，y02)；

对所述待校正图像中每列像素点，计算所述上端校正曲线函数点坐标(x，y1)和所述下端校正曲线函数点坐标(x，y2)；

对所述待校正图像中每列像素点，计算上端标准偏移量Δy1和下端标准偏移量Δy2，其中，Δy1＝y01-y1，Δy2＝y02-y2；

对所述待校正图像每列的各像素点(x，y)，计算各点位置偏移量(0，Δy)，其中：Δy＝Δy1×[(y02-y)/(y02-y01)]+Δy2×[(y-y01)/(y02-y01)]，或Δy＝Δy1×[(y2-y)/(y2-y1)]+Δy2×[(y-y1)/(y2-y1)]；

基于所述各点位置偏移量对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像。

3.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述梯度阈值包括阈值A和阈值B，其中，0.2≤所述阈值A≤0.4，0.5≤所述阈值B≤0.8；所述阈值A对应的插值列数为1，所述阈值B对应的插值列数为2。