[发明专利]一种基于高斯插值提高雷达测距精度的方法有效
申请号: | 202011250817.6 | 申请日: | 2020-11-10 |
公开(公告)号: | CN112462356B | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 马兰;李照照;杨雪林;井伟 | 申请(专利权)人: | 西安电子工程研究所 |
主分类号: | G01S13/10 | 分类号: | G01S13/10;G01S7/288;G01S7/292;G01S7/41 |
代理公司: | 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 | 代理人: | 刘新琼 |
地址: | 710100 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 高斯插值 提高 雷达 测距 精度 方法 | ||
1.一种基于高斯插值提高雷达测距精度的方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:给定工程中选择的时宽T、带宽B、采样率fs1以及窗函数信息,在不加噪声的情况下,通过在采样率fs2下仿真分析对设计好的波形作脉冲压缩处理,将采样时间用真实采样率fs1归一化为采样时间单元;选择两个采样时间间隔2*1/fs1内脉压波形的采样时间单元数据和幅度数据作高斯函数拟合,得到拟合高斯分布的概率密度函数,即得到了确定的方差值;
步骤2:对加入高斯白噪声后真实采样率下脉压结果3dB波束宽度内的最大值和次大值采样点作高斯插值处理,得到拟合高斯分布函数的均值,也就是回波峰值对应的采样时间单元;具体如下:
高斯分布概率密度函数的一般表达式:
其中,t0表示高斯分布的均值,σ表示高斯分布的方差;假设实际得到的两个采样点幅值分别为y1和y2,对应的采样时间单元分别为t1和t2,则有:
化简上式可以得到t0的表达式为:
将步骤1中得到的方差值、t1、t2和y1、y2代入上式即可求得高斯分布函数的均值,也就是回波峰值对应的采样时间单元;
步骤3:将采样时间单元转换为采样时间,即对t0作归一化,对应的采样时间为t0/fs1;
步骤4:根据回波峰值对应的采样时间求出插值处理后的距离为其中C为光速。
2.根据权利要求1所述的一种基于高斯插值提高雷达测距精度的方法,其特征在于所述的fs2是fs1的10到15倍。
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