[发明专利]一种模拟量采集动态补偿方法及系统有效
申请号: | 202011253698.X | 申请日: | 2020-11-11 |
公开(公告)号: | CN112511162B | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 马志敏;周东杰;赵会彬;吕玄兵;牟涛;李超;朱付强;蔡娆娆;郭震;孙振华;赵群辉;李海瑶;龚兴全;宋一丁 | 申请(专利权)人: | 许继集团有限公司;许继电气股份有限公司;许昌许继软件技术有限公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12;H03M1/06;G01R23/02 |
代理公司: | 北京中创云知识产权代理事务所(普通合伙) 11837 | 代理人: | 梁洪峰 |
地址: | 461000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模拟 采集 动态 补偿 方法 系统 | ||
1.一种模拟量采集动态补偿方法,其特征在于,包括步骤:
S1、获取实时的晶振频率f’;
S2、将所述实时的晶振频率f’与晶振的理论频率f做差得到Δf,根据所述Δf和设定的采样率得出需要调整的采样间隔宽度;所述设定的采样率指每秒采样点数为M,采样间隔为t的采样率;
S3、当某一秒的最后一次采样距离下一秒的采样间隔宽度大于设定值t’,小于理论采样间隔t,则按照上述步骤S2中的采样间隔宽度进行采样,将下一次采样的采样序号置0,同时,下一次采样的零时刻与下一秒的零时刻对齐;
S4、当某一秒的最后一次采样距离下一秒的采样间隔宽度小于设定值t’,则不再进行该秒内的采样,下一次采样的零时刻与下一秒的零时刻对齐以实现该动态补偿;
其中,所述设定值t’设置为:t’=t-10us。
2.根据权利要求1所述的模拟量采集动态补偿方法,其特征在于,所述获取实时的晶振频率f’,包括:获取N秒内晶振的有效样本,得出每个单位时间对应的晶振实际频率,在得出每个单位时间对应的晶振实际频率之后,每秒都更新一次晶振的有效样本,以获取实时的晶振频率f’。
3.根据权利要求2所述的模拟量采集动态补偿方法,其特征在于,所述获取晶振的有效样本,包括FPGA以外部B码对时源为基准自产秒脉冲,并获取每秒的晶振数样本作为所述晶振的有效样本。
4.根据权利要求3所述的模拟量采集动态补偿方法,其特征在于,所述FPGA实时监视外部B码对时源,当所述B码对时源中断或者发生异常时,所述FPGA根据当前样本库,自产秒脉冲。
5.一种模拟量采集动态补偿系统,其特征在于,包括频率获取模块、采样间隔宽度获取模块、以及补偿模块;所述频率获取模块、采样间隔宽度获取模块、以及补偿模块依次连接;
所述频率获取模块,获取实时的晶振频率f’;
所述采样间隔宽度获取模块,将所述实时的晶振频率f’与晶振的理论频率f做差得到Δf,根据所述Δf和设定的采样率得出需要调整的采样间隔宽度,所述设定的采样率指每秒采样点数为M,采样间隔为t的采样率;
所述补偿模块,当某一秒的最后一次采样距离下一秒的采样间隔宽度大于设定值t’,小于理论采样间隔t,则按照上述步骤S2中的采样间隔宽度进行采样,将下一次采样的采样序号置0,同时,下一次采样的零时刻与下一秒的零时刻对齐;并且,
当某一秒的最后一次采样距离下一秒的采样间隔宽度小于设定值t’,则不再进行该秒内的采样,下一次采样的零时刻与下一秒的零时刻对齐以实现该动态补偿;
其中,所述设定值t’设置为:t’=t-10us。
6.根据权利要求5所述的模拟量采集动态补偿系统,其特征在于,所述频率获取模块中,获取实时的晶振频率f’,包括获取N秒内晶振的有效样本,得出每个单位时间对应的晶振实际频率,在得出每个单位时间对应的晶振实际频率之后,每秒都更新一次晶振的有效样本,以获取实时的晶振频率f’。
7.根据权利要求6所述的模拟量采集动态补偿系统,其特征在于,所述频率获取模块中,获取晶振的有效样本,包括FPGA以外部B码对时源为基准自产秒脉冲,并获取每秒的晶振数样本作为所述晶振的有效样本。
8.根据权利要求7所述的模拟量采集动态补偿系统,其特征在于,所述频率获取模块中,还包括FPGA实时监视外部B码对时源,当所述B码对时源中断或者发生异常时,所述FPGA根据当前样本库,自产秒脉冲。
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