[发明专利]老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质

说明书

本发明涉及机械领域，公开了一种老化测试方法，其特征在于，包括：搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站，所述嵌入式主站包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口；将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统；利用所述EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。本发明实施方式还提供了一种老化测试装置、EtherCAT主站及系统、存储介质。本发明实施方式所提供的老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质，具有在提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度的同时，无需提升老化测试成本的优点。

技术领域

本发明涉及机械领域，特别涉及一种老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质。

背景技术

在电子元件(例如IC元件)制造过程中，电子元件制作完成之后，通常会对电子元件进行老化测试，以测试电子元件的可靠度。老化测试是将电子元件置放老化测试机台中进行加热，并于同时对电子元件进行电性测试，而测试电子元件的可靠度是否符合标准。

然而，本发明的发明人发现，现有技术中的EtherCAT系统中，一个EtherCAT主站连接数以万计的EtherCAT从站，对EtherCAT系统进行老化检测时，若EtherCAT从站发生故障，由于EtherCAT从站数量过多，难以对故障的EtherCAT从站进行定位；现有技术中为了更好的对EtherCAT从站故障定位，需要更多的设置EtherCAT主站，但EtherCAT主站的成本较高，造成了成本和定位精度的矛盾，即达到较高的定位精度则需要较高的EtherCAT主站成本，而减小EtherCAT主站成本会造成故障定位精度较低。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质，在提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度的同时，无需提升老化测试成本。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种老化测试方法，包括：搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站，所述嵌入式主站包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口；将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统；利用所述EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。

本发明的实施方式还提供了一种EtherCAT主站，包括：嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口，所述嵌入式芯片上运行有SOEM协议。

本发明的实施方式还提供了一种EtherCAT系统，包括：EtherCAT从站和如前述的EtherCAT主站。

本发明的实施方式还提供了一种老化测试装置，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如前述的老化测试方法。

本发明的实施方式还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现前述的EtherCAT系统老化测试方法。

本发明实施方式相对于现有技术而言，本申请中设计了一种成本较低的EtherCAT主站，包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口，在EtherCAT系统中连接多个EtherCAT主站，当EtherCAT从站出现故障时，可以先定位故障发生的EtherCAT主站，再根据故障发生的EtherCAT主站进一步的定位EtherCAT从站，由于本申请中的EtherCAT主站相较于现有技术中的其它类型的EtherCAT主站成本更低，在成本相同时，可以在待测EtherCAT系统中设置更多的EtherCAT主站，从而提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度。