[发明专利]一种超大尺寸高精度二维平面测量设备

权利要求书

1.一种超大尺寸高精度二维平面测量设备，包括：把超大尺寸产品测量点分割到不同的机械移动可达到的n个拍摄点；大范围的机械移动（基于光栅尺与伺服电机系统结合解决机械定位精度），用于定位n个机械原点；在n个机械原点进行拍摄采图，基于预先标定的系数建立图像坐标系Qn，图像中的测量点由图像算法自动找到，（如边缘提取，圆中心点，椭圆中心点，矩形中心点，弧度中心点等）；利用图像坐标系的平移换算得到Qn坐标系内所有测量点的世界坐标；建立所有测量点的对应计算关系（需要计算那些测量点之间的实际距离），得到实际测量尺寸；定义好所有测量尺寸后保存测量任务；基于移动总程和移动顺序，全局范围内的n坐标点的优化；自动测量并计算测量结果。

2.按照权利要求1所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：把超大尺寸产品测量点分割到不同的机械移动可达到的n个拍摄点，不局限于拍摄点的数量。

3.按照权利要求2所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：所述机械原点的高精度定位由基于光栅尺与伺服电机系统结合实现。

4.按照权利要求3所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：由预先标定的系数实现图像坐标系Qn的建立。

5.按照权利要求4所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：所述测量点由图像算法自动找到（如边缘提取，圆中心点，椭圆中心点，矩形中心点，弧度中心点等）。

6.按照权利要求5所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：所述测量点的实际尺寸为，利用图像坐标系的平移换算得到Qn坐标系内所有测量点的世界坐标后，并根据其对应计算关系获得。

7.按照权利要求6所述的超大尺寸高精度二维平面测量设备，其特征在于：基于移动总路程和移动顺序，在全局范围内进行坐标点的优化。