[发明专利]磁场无源探头和磁场探测装置有效
申请号: | 202011260068.5 | 申请日: | 2020-11-12 |
公开(公告)号: | CN112698251B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 邵伟恒;方文啸;黄权;王磊;路国光;黄云 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 袁武 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 磁场 无源 探头 探测 装置 | ||
1.一种磁场无源探头,其特征在于,包括依次排列的第一接地层、第一信号层、第二信号层和第二接地层;
所述第一接地层的端部上开设有第一探测开口,所述第一探测开口包括开孔和缝,所述第二接地层的端部上开设有第二探测开口,所述第二探测开口包括开孔和缝,所述第一探测开口的位置和所述第二探测开口的位置相对应;所述第一信号层上布设有第一探测线,所述第一探测线的一端与第一信号层相连接,所述第一探测线的另一端围绕所述第一探测开口的位置形成第一探测线圈;所述第二信号层上布设有第二探测线,所述第二探测线的一端与所述第一信号层相连接,所述第二探测线的另一端围绕所述第二探测开口的位置形成第二探测线圈;所述第一信号层和所述第二信号层对应位置设有贯穿所述第一信号层和所述第二信号层的过孔,且所述过孔位置与所述第一探测开口和所述第二探测开口的开孔处对应;所述第一探测线和所述第二探测线轴对称设置,且所述第一探测线圈与所述第二探测线圈通过所述过孔相连接,用于探测磁场信号;
所述第一接地层上远离所述第一探测开口的一端还设有第一转接部和第二转接部;所述第一探测线与所述第一转接部相连接,所述第二探测线与所述第二转接部相连接;
所述第一探测线和所述第二探测线为矩形线圈、圆形线圈或者多边形线圈。
2.一种磁场探测装置,其特征在于,包括:
如权利要求1所述的磁场无源探头;
有源放大电路板,与所述磁场无源探头相连接,所述有源放大电路板上铺设有供电电路和增益放大电路;
所述供电电路,用于提供电信号;
所述增益放大电路,分别与所述供电电路和所述磁场无源探头相连接,用于对磁场信号进行放大;
所述增益放大电路包括三级差分放大电路。
3.根据权利要求2所述的磁场探测装置,其特征在于,所述磁场无源探头的第一接地层上远离所述第一探测开口的一端还设有第一转接部和第二转接部;所述有源放大电路板上还设有第三转接部和第四转接部,所述第三转接部与所述第一转接部相连接,所述第四转接部与所述第二转接部相连接。
4.根据权利要求3所述的磁场探测装置,其特征在于,所述磁场探测装置还包括第一电容和第二电容,所述第三转接部通过所述第一电容与所述第一转接部相连接,所述第四转接部通过所述第二电容与所述第二转接部相连接。
5.根据权利要求2所述的磁场探测装置,其特征在于,所述磁场探测装置还包括第一SMA连接器和第二SMA连接器,所述第一SMA连接器的一端与所述增益放大电路的第一输出端相连接,另一端连接外部分析设备;所述第二SMA连接器的一端与所述增益放大电路的第二输出端相连接,另一端连接外部分析设备;所述第一SMA连接器和所述第二SMA连接器用于将所述磁场信号传输至所述外部分析设备进行分析,以得到磁场参数。
6.根据权利要求5所述的磁场探测装置,其特征在于,所述有源放大电路板上还布设有一个第一SMA转换通孔和一个第二SMA转换通孔;所述增益放大电路的第一输出端通过所述第一SMA转换通孔与所述第一SMA连接器的一端相连接,所述增益放大电路的第二输出端通过所述第二SMA转换通孔与所述第二SMA连接器的一端相连接。
7.根据权利要求2所述的磁场探测装置,其特征在于,所述有源放大电路板为采用LTCC工艺制备的电路板。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011260068.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。