[发明专利]一种智能化LED光源板寿命测试系统在审
申请号: | 202011265155.X | 申请日: | 2020-11-13 |
公开(公告)号: | CN112433142A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 陈茂凌;宋洁琼;李江山;赵柱博;张文韬;杨卉娟;姜丽丽;张波;刘尔立;虞再道;杨樾;陈超中 | 申请(专利权)人: | 上海时代之光照明电器检测有限公司;国家灯具质量监督检验中心;国家电光源质量监督检验中心(上海) |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201100 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 智能化 led 光源 寿命 测试 系统 | ||
本申请涉及一种智能化LED光源板寿命测试系统,涉及LED光源板性能测试的技术领域,其包括:老化单元包括用于放置多个待测试光源板且提供特定老化环境的老化腔室;移送单元配置为驱动待测试光源板沿设定路径移动或者于设定位置停留;测试单元包括测试腔室和设置在测试腔室一侧的测试件;供能单元,包括测试电源配置为用于为待测试光源板供能的电源;控制单元控制待测试光源板在老化腔室提供的特定老化环境内停留设定的时间,由移送单元移送至设定位置;当待测试光源板位于设定位置时,控制单元控制测试件对待测试光源板进行测试,并输出测试结果。本申请具有自动化测试LED光源板的寿命的效果。
技术领域
本申请涉及LED光源板性能测试的技术领域,尤其是涉及一种智能化LED光源板寿命测试系统。
背景技术
LED光源板通常是由集成在一电路板上的多个有规律排布的LED晶片组成,其中多个LED晶片一般呈圆周阵列分布或者呈矩阵阵列分布。
LED光源板在出厂之前通常需要进行寿命测试,测试方式为:LED光源板连续工作10000小时,然后通过探头测试LED光源板上晶片的发光状态。在实际测试过程中,为了更加清楚的了解LED光源板的工作状态,一般将待测试光源板放置于模拟老化的环境中,每1000小时进行一次测试,主要测试LED光源板中晶片的发光效果。在测试过程中,通常需要人工将进行待测试光源板移动至测试处进行测试;测试结束后,再由人工将待测试光源板移送至模拟老化处。且在将=待测试光源板从模拟老化处移送至测试处时需要保持待测试光源板发光。
针对上述中的相关技术,发明人认为:由于测试过程中需要人工操作,每批次测试样品是20个以上的灯珠,逐个手工测试效率较低,而且容易造成差错,降低工作效率。为了实现自动化控制,同时,也有利于检测人员的身心健康,不会受到不规律的工作时间影响,提出本申请。
发明内容
为了利于工作人员的休息和身体健康,实现自动化测试的目的,本申请提供一种智能化LED光源板寿命测试系统。
本申请提供的一种智能化LED光源板寿命测试系统,采用如下的技术方案:
一种智能化LED光源板寿命测试系统,包括:
老化单元,包括用于放置多个待测试光源板且提供特定老化环境的老化腔室;
移送单元,配置为驱动待测试光源板沿设定路径移动或者于设定位置停留;
测试单元,包括测试腔室和设置在所述测试腔室一侧的测试件,所述测试件位于所述移送单元的移送范围内;
供能单元,包括测试电源,配置为用于为位于所述移送单元移送的待测试光源板和位于所述测试单元内的待测试光源板供能的电源;
控制单元,用于控制所述老化单元、移送单元、供能单元和测试单元的运行状态,控制待测试光源板在所述老化腔室提供的特定老化环境内停留设定的时间,由所述移送单元移送至设定位置;
当待测试光源板位于设定位置时,所述控制单元控制所述测试件对待测试光源板进行测试,并输出测试结果。
通过采用上述技术方案,工作人员先将待测试光源板安装于老化腔室内,同时控制单元控制老化单元提供用于测试的特定老化环境,如高温等环境。当达到设定时间后,控制单元控制移送单元将待测试光源板移送至测试单元,且待测试光源板位于测试件的测试范围内。测试件对待测试光源板的发光效果进行测试,并输出测试结果;实现检测LED光源板的经由模拟老化后的发光效果,并转换为LED光源板使用寿命的目的;在此过程中供能单元为待测试光源板供电,使得待测试光源板保持发光的状态。且在此过程中,采用控制单元控制老化单元、移送单元和测试单元的运行状态,实现自动化测试LED光源板的寿命的目的。
优选的,所述移送单元包括平移组件、第一伸缩组件和第一夹持组件;其中,
所述平移组件包括沿设定方向设置的滑轨、滑移设置于所述滑轨上的滑块、以及驱动所述滑块沿滑轨滑移的驱动件;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海时代之光照明电器检测有限公司;国家灯具质量监督检验中心;国家电光源质量监督检验中心(上海),未经上海时代之光照明电器检测有限公司;国家灯具质量监督检验中心;国家电光源质量监督检验中心(上海)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011265155.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。