[发明专利]一种测量装置在审
申请号: | 202011274116.6 | 申请日: | 2020-11-15 |
公开(公告)号: | CN112304194A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 王江浩 | 申请(专利权)人: | 杭州优图工业设计有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12;G01B5/24;G01B5/245 |
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地址: | 310051 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 装置 | ||
本发明公开了一种测量装置,涉及数据测量技术领域,本发明包括尺套、长度测量装置、角度测量装置、内外径测量装置、软尺装置,尺套包括水平尺尺套、竖直尺尺套和转轴,角度测量装置包括半圆尺,内外径测量装置包括游标,游标与水平尺尺套外表面滑动配合,软尺装置包括卷尺,卷尺安装于转轴周侧面,本发明一种测量装置,设置尺套便于保护量具,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度,半圆尺与半圆尺复尺采用嵌套结构大大节约了空间,内外径测量装置能够测量物体在空间上的数据,卷尺使测量更加灵活。
技术领域
本发明涉及数据测量技术领域,特别涉及一种测量装置。
背景技术
测量装置是量具对物体进行测量的工具,在日常生活中,要想知道物体的某些数据时,就需要使用测量装置,来获得物体的具体信息。
现有的测量装置种类繁多,在测量一个物体时需要大量工具,且量具繁多体积大不易携带,为此,我们提出一种测量装置。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种测量装置,可以有效解决背景技术中测量装置种类繁多,在测量一个物体时需要大量工具,且量具繁多体积大不易携带的问题。
为实现上述目的,本发明采取的技术方案为:一种测量装置,包括尺套、长度测量装置、角度测量装置、内外径测量装置、软尺装置,所述尺套包括水平尺尺套、竖直尺尺套和转轴,所述水平尺尺套和竖直尺尺套均为中空结构,所述长度测量装置包括水平直尺,所述水平直尺安装于水平尺尺套内部,所述角度测量装置包括半圆尺,所述水平尺尺套一表面和竖直尺尺套一表面均设有通孔,所述半圆尺分别与若干通孔滑动配合,所述内外径测量装置包括游标,所述游标与水平尺尺套外表面滑动配合,所述软尺装置包括卷尺,所述卷尺安装于转轴周侧面。
优选的,所述尺套水平尺尺套、竖直尺尺套、转轴和卷尺壳,所述卷尺壳一端与水平尺尺套一表面连接,所述卷尺壳另一端与竖直尺尺套连接,设置尺套便于保护量具,减少其尺面上刻度的磨损,能够延长其使用寿命。
优选的,所述长度测量装置包括水平直尺和竖直立尺,所述竖直立尺安装于竖直立尺内部,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度。
优选的,所述角度测量装置包括半圆尺和半圆尺复尺,所述半圆尺为中空结构,所述半圆尺复尺安装于半圆尺内部,半圆尺可测量角度,半圆尺复尺扩大了测量范围,使测量数据更加直观,采用嵌套结构大大节约了空间。
优选的,所述内外径测量装置包括游标、测量爪和转齿,所述若干测量爪分别与游标一侧面相连接,所述游标一表面设有安装槽,所述转齿安装于安装槽内且于安装槽旋转配合,内外径测量装置突破了平面测量的限制,能够测量物体在空间上的数据。
优选的,所述软尺装置包括卷尺、卷尺室和卷尺卡套,所述卷尺室为中空结构,所述卷尺室安装于转轴周侧面,所述卷尺卡套安装于卷尺一端,卷尺使测量更加灵活,能测量更多所需的数据。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
本发明中,设置尺套便于保护量具,能够减少其尺面上刻度的磨损,能够延长其使用寿命。
本发明中,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度,半圆尺可测量角度,半圆尺复尺扩大了测量范围,使测量数据更加直观,采用嵌套结构大大节约了空间。
本发明中,内外径测量装置突破了平面测量的限制,能够测量物体在空间上的数据,卷尺使测量更加灵活,能测量更多所需的数据。
附图说明
图1为本发明一种测量装置的整体结构示意图;
图2为本发明一种测量装置的左视结构示意图;
图3为本发明一种测量装置的图2中D-D处的剖面结构示意图;
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