[发明专利]一种测量装置在审

专利信息
申请号: 202011274116.6 申请日: 2020-11-15
公开(公告)号: CN112304194A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 王江浩 申请(专利权)人: 杭州优图工业设计有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12;G01B5/24;G01B5/245
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地址: 310051 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 装置
【说明书】:

发明公开了一种测量装置,涉及数据测量技术领域,本发明包括尺套、长度测量装置、角度测量装置、内外径测量装置、软尺装置,尺套包括水平尺尺套、竖直尺尺套和转轴,角度测量装置包括半圆尺,内外径测量装置包括游标,游标与水平尺尺套外表面滑动配合,软尺装置包括卷尺,卷尺安装于转轴周侧面,本发明一种测量装置,设置尺套便于保护量具,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度,半圆尺与半圆尺复尺采用嵌套结构大大节约了空间,内外径测量装置能够测量物体在空间上的数据,卷尺使测量更加灵活。

技术领域

本发明涉及数据测量技术领域,特别涉及一种测量装置。

背景技术

测量装置是量具对物体进行测量的工具,在日常生活中,要想知道物体的某些数据时,就需要使用测量装置,来获得物体的具体信息。

现有的测量装置种类繁多,在测量一个物体时需要大量工具,且量具繁多体积大不易携带,为此,我们提出一种测量装置。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测量装置,可以有效解决背景技术中测量装置种类繁多,在测量一个物体时需要大量工具,且量具繁多体积大不易携带的问题。

为实现上述目的,本发明采取的技术方案为:一种测量装置,包括尺套、长度测量装置、角度测量装置、内外径测量装置、软尺装置,所述尺套包括水平尺尺套、竖直尺尺套和转轴,所述水平尺尺套和竖直尺尺套均为中空结构,所述长度测量装置包括水平直尺,所述水平直尺安装于水平尺尺套内部,所述角度测量装置包括半圆尺,所述水平尺尺套一表面和竖直尺尺套一表面均设有通孔,所述半圆尺分别与若干通孔滑动配合,所述内外径测量装置包括游标,所述游标与水平尺尺套外表面滑动配合,所述软尺装置包括卷尺,所述卷尺安装于转轴周侧面。

优选的,所述尺套水平尺尺套、竖直尺尺套、转轴和卷尺壳,所述卷尺壳一端与水平尺尺套一表面连接,所述卷尺壳另一端与竖直尺尺套连接,设置尺套便于保护量具,减少其尺面上刻度的磨损,能够延长其使用寿命。

优选的,所述长度测量装置包括水平直尺和竖直立尺,所述竖直立尺安装于竖直立尺内部,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度。

优选的,所述角度测量装置包括半圆尺和半圆尺复尺,所述半圆尺为中空结构,所述半圆尺复尺安装于半圆尺内部,半圆尺可测量角度,半圆尺复尺扩大了测量范围,使测量数据更加直观,采用嵌套结构大大节约了空间。

优选的,所述内外径测量装置包括游标、测量爪和转齿,所述若干测量爪分别与游标一侧面相连接,所述游标一表面设有安装槽,所述转齿安装于安装槽内且于安装槽旋转配合,内外径测量装置突破了平面测量的限制,能够测量物体在空间上的数据。

优选的,所述软尺装置包括卷尺、卷尺室和卷尺卡套,所述卷尺室为中空结构,所述卷尺室安装于转轴周侧面,所述卷尺卡套安装于卷尺一端,卷尺使测量更加灵活,能测量更多所需的数据。

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:

本发明中,设置尺套便于保护量具,能够减少其尺面上刻度的磨损,能够延长其使用寿命。

本发明中,水平直尺与竖直立尺可以从两个方向测量数据,还可检测物体的垂直度,半圆尺可测量角度,半圆尺复尺扩大了测量范围,使测量数据更加直观,采用嵌套结构大大节约了空间。

本发明中,内外径测量装置突破了平面测量的限制,能够测量物体在空间上的数据,卷尺使测量更加灵活,能测量更多所需的数据。

附图说明

图1为本发明一种测量装置的整体结构示意图;

图2为本发明一种测量装置的左视结构示意图;

图3为本发明一种测量装置的图2中D-D处的剖面结构示意图;

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