[发明专利]一种数据校验方法、装置、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种数据校验方法，所述方法应用于智能终端，其特征在于，所述方法包括：

基于切面技术提取数据流中的目标数据；

根据预存基准数据，校验所述目标数据是否满足预设条件。

2.根据权利要求1所述的数据校验方法，其特征在于，所述基于切面技术提取数据流中的目标数据包括：

识别数据流所在系统的关键域；

在所述关键域的数据接口处提取目标数据。

3.根据权利要求2所述的数据校验方法，其特征在于，预存基准数据包括：

基于JSR-303规范预存所述关键域基准数据；其中，所述基准数据可接收自定义配置和检测。

4.根据权利要求3所述的数据校验方法，其特征在于，所述校验所述目标数据是否满足预设条件包括：

在Spring MVC系统中增设数据校验层；

在所述数据校验层执行数据校验线程；其中所述数据校验线程用于校验所述目标数据是否满足预设条件。

5.根据权利要求1或4所述的数据校验方法，其特征在于，所述在Spring MVC系统中增设数据校验层包括：

在控制层和业务逻辑层之间增设数据校验层；或，

在业务逻辑层与数据持久层增设数据校验层。

6.根据权利要求5所述的数据校验方法，其特征在于，所述方法还包括：

将校验数据进行存储，并根据校验数据确定校验结果；

将所述校验结果反馈至系统前端。

7.根据权利要求6所述的数据校验方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果校验所述目标数据不满足预设条件，则根据所述预存基准数据，对所述目标数据调整为满足预设条件的数据。

8.一种数据校验装置，应用于智能终端，其特征在于，所述装置包括：提取模块、存储模块和校验模块；其中，

所述提取模块，用于基于切面技术提取数据流中的目标数据；

所述存储模块用于预存基准数据；

所述校验模块，用于根据预存基准数据校验所述目标数据是否满足预设条件。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器；

所述存储器，用于存储操作指令；

所述处理器，用于通过调用所述操作指令，执行权利要求1-6中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。