[发明专利]一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法

权利要求书

1.一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、安装CIFLog测井解释平台，要求采用CIFLog 2.1及以上版本，并且已配备JAVA运行环境及VC运行环境；

b、收集符合标准的常规测井资料及录井资料，进行资料预处理，包括深度校正、平滑滤波、井眼校正；

c、计算并绘制电阻率曲线，补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线；

d、对目标储层的深度进行屏幕取值，记录对应储层深度的电阻率，密度及中子孔隙度；

e、利用补偿密度孔隙度资料计算出密度孔隙度，计算公式为：

Ф_DEN＝(2.65-ρ)÷1.65×100％ (1)

式中Ф_DEN为密度孔隙度，单位为％；ρ为密度测井所测密度值，单位为g/cm³；

f、将中子孔隙度值与密度孔隙度值求差，获得密度-中子孔隙度差，计算公式为：

Ф＝Ф_CNL-Ф_DEN (2)

式中Ф为中子-密度孔隙度差，单位为％；Ф_CNL为中子孔隙度，单位为％，如中子孔隙度测井资料单位为1，则将其单位转化为％后进行计算；

g、计算目标储层视地层水电阻率数值，计算公式为:

式中R_t为地层电阻率，单位为Ω·m，为地层孔隙度，单位为％，a是与岩性有关的岩性系数，M是胶结指数；

h、将计算得到的中子—密度孔隙度差及视地层水电阻率进行交会处理，绘制视地层水电阻率—中子—密度孔隙度差交会图；

i、根据图版对交会图中对应储层进行评价，具体评价标准根据地层类型进行区分。