[发明专利]一种全自动平面度测量的控制方法在审

专利信息
申请号: 202011279851.6 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112588602A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 钟兆华;林榕;许华;何强 申请(专利权)人: 广东九联科技股份有限公司
主分类号: B07C5/10 分类号: B07C5/10;B07C5/36
代理公司: 广东华专知识产权代理事务所(普通合伙) 44669 代理人: 彭俊垣
地址: 516025 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 全自动 平面 测量 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种全自动平面度测量的控制方法,用于测量模组表面的平面度,测量过程采用具有抓取装置、测试平台的测量设备完成,其特征在于:包括以下步骤:

S100:抓取装置识别和读取模组上的二维码,通过读取所述二维码的信息对所述模组进行定位并将模组转移至测试平台;

S200:测试平台根据预先设置的取值点对所述模组表面取值,并计算出所述模组的实际平面度;

S300:对比所述模组的实际平面度和预设平面度的大小,若实际平面度小于预设平面度,所述抓取装置将所述模组移动至合格区域;若实际平面度大于预设平面度,所述抓取装置将所述模组移动至不合格区域,重复步骤S100。

2.根据权利要求1所述的全自动平面度测量的控制方法,其特征在于:在步骤S100中,所述抓取装置对所述模组进行定位包括如下步骤:

S101:所述抓取装置移动到所述模组上方,识别所述模组表面的不锈钢屏蔽盖上的二维码;

S102:扫描所述二维码并获取二维码的位置,所述抓取装置移动到所述二维码的位置,抓取所述模组放置于测试平台上。

3.根据权利要求1所述的全自动平面度测量的控制方法,其特征在于:在所述测试平台上安装有激光位移传感器,在步骤S200中,计算所述模组的实际平面度包括以下步骤:

S201:预先设定所述测试平台在所述模组表面取n个点;

S202:所述测试平台驱动所述激光位移传感器逐个点进行取值,得到n个空间坐标点;

S203:将n个空间坐标点通过最小二乘法拟合出一个平面A,计算n个点相对于平面A最大距离值S1,和最小距离S2,求出S1-S2的差值即是所述模组的实际平面度。

4.根据权利要求3所述的全自动平面度测量的控制方法,其特征在于:在步骤S201中,所述测试平台在所述模组表面取呈“田”字形分布的9个点。

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