[发明专利]发光二极管的外延片及其制备方法有效
申请号: | 202011282626.8 | 申请日: | 2020-11-17 |
公开(公告)号: | CN112582508B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 洪威威;尚玉平;梅劲;董彬忠 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 吕耀萍 |
地址: | 322000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底(10)和依次形成在所述衬底(10)上的AlN缓冲层(20)、三维成核层(30)、u型GaN层(40)、n型GaN层(50)、多量子阱层(60)、低温p型层(70)、电子阻挡层(80)和高温p型层(90),所述高温p型层(90)的生长温度高于所述低温p型层(70)的生长温度,其中,所述多量子阱层(60)包括交替层叠的多个InxGa1-xN量子阱层(61)和多个GaN量子垒层(62)、以及位于所述InxGa1-xN量子阱层(61)和所述GaN量子垒层(62)之间的复合结构(63),所述复合结构(63)包括依次层叠的n-InyGa1-yN层(631)和SiN层(632),0<y<x<1。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述n-InyGa1-yN层(631)的厚度为0.1nm~1.5nm。
3.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,0.1≤y≤0.3。
4.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述n-InyGa1-yN层(631)中Si的掺杂浓度为1017cm-3~1018cm-3。
5.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,所述SiN层(632)的厚度为0.1nm~1nm。
6.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,相邻的所述InxGa1-xN量子阱层(61)和所述GaN量子垒层(62)之间夹设有2~10个所述复合结构(63)。
7.一种发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次外延生长AlN缓冲层(20)、三维成核层(30)、u型GaN层(40)、n型GaN层(50)、多量子阱层(60)、低温p型层(70)、电子阻挡层(80)和高温p型层(90),所述高温p型层(90)的生长温度高于所述低温p型层(70)的生长温度,其中,所述多量子阱层(60)包括交替层叠的多个InxGa1-xN量子阱层(61)和多个GaN量子垒层(62)、以及位于所述InxGa1-xN量子阱层(61)和所述GaN量子垒层(62)之间的复合结构(63),所述复合结构(63)包括依次层叠的n-InyGa1-yN层(631)和SiN层(632),0<y<x<1。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述n-InyGa1-yN层(631)的生长温度为700℃~830℃,生长压力为100torr~300torr。
9.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述SiN层(632)采用如下方式生长:
在氮气和氢气的混合气氛下,向反应腔中以恒定流量通入氮气,以脉冲的形式通入硅烷,以氨气和硅烷作为原料气生长所述SiN层(632)。
10.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述SiN层(632)的生长温度为800℃~960℃,生长压力为100torr~300torr。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电(浙江)有限公司,未经华灿光电(浙江)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011282626.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。