[发明专利]构建用于筛查乳粉中化学危害物的液质数据库的方法

权利要求书

1.一种构建用于筛查乳粉/基粉中化学危害物的液质数据库的方法，所述方法包括如下步骤：

(1)基粉/乳粉的前处理；

(2)使用液相色谱-级联质谱对乳粉成分进行检测并收集质谱数据；

(3)数据采集与处理；

步骤(1)所述的基粉/乳粉前处理步骤包括：

1)精密称取乳粉，加入去离子水充分搅拌至完全溶解，配制混合乳液，放置4℃保存；

2)混合乳液中加入冰乙腈，涡旋振荡后，8000g，离心5min后取上清溶液，上清液脱脂处理；

3)提取上清液后剩余液体中加入MgSO₄和NaCl，涡旋振荡混匀后，进行盐析，5000g离心3min后取上清溶液；

4)步骤3)的上清液与步骤2)中的脱脂上清液混合后，涡旋振荡混匀，5000g离心3min取上清液，氮气流吹干后，用体积比1:1的甲醇/水复溶，至滤器中过滤；

步骤(2)所述的使用液相色谱-级联质谱对乳粉成分进行检测的步骤为；

液相色谱的方法为：

色谱柱：ACQUITY UPLC BEH C18柱；

流动相：

1)正离子模式：A液：0.1％甲酸-5mM甲酸铵-水溶液，B液：0.1％甲酸-乙腈；

2)负离子模式：A液：5mM甲酸铵-水溶液，B液：乙腈；

梯度洗脱，正负离子洗脱程序相同，洗脱程序为；

流速：0.2mL/min；

柱温：40℃；

进样量：20μL；

2)级联质谱的方法为：

离子源：ESI源；

采集方式及参数设置：

Ⅰ、TOF MS-DIA-Product Ion，正/负离子检测，具体参数如下：

TOF MS扫描质量数范围：50-1200Da；

TOF MS采集累积时间：0.25s；

IDA采集阈值：100cps；

Product Ion采集累积时间：0.075s；

电喷雾电压：5500V/-4500V；

解聚电压：80V；

碰撞能量：35±15/-35±15；

离子源温度：500℃；

雾化气压力：50psi；

气帘气压力：30psi；

辅助气压力：50psi；

Ⅱ、Sequential Windowed Acquisition of All Theoretical Fragment Ion，正/负离子检测，具体参数如下：

碰撞能量：35±15/-35±15；

喷雾电压：5500V/-4500V；

离子源温度：500℃；

雾化气压力：50psi；

气帘气压力：30psi；

辅助气压力：50psi；

步骤(3)所述的数据采集与处理的步骤为：

1)SWATH采集包含TOF MS扫描200ms，每个50ms的SWATH扫描窗口；

2)基粉样品IDA扫描数据通过运算得到：

3)将SWATH数据进行二级质谱解卷积，设置参数如下：

数据采集MS1和MS2质量偏差容许分别为0.01Da和0.025Da；

数据采集时间范围是1.5min-28min；

MS1和MS2采集范围分别是100-1200Da和50-1200Da；

最大电荷数为2；

最小峰高为500cps；

质量块宽度为0.1Da；

MS2解卷积丰度扣除为10cps；

正离子扫描模式的加合离子为[M+H]⁺、[M+NH₄]⁺、[M+Na]⁺、[M+CH₃OH+H]⁺、[M+H-H₂O]⁺、[M+2H]²⁺、[M+CH₃OH+H]²⁺、[M+H]²⁺、[M+H-2H₂O]²⁺、[M+HCOOH+H]⁺、[M+H-H₂O]²⁺、[M+Na]²⁺、[M+NH₄]²⁺；

负离子扫描模式的加合离子为[M-H]^-、[2M-H]^-、[M+Cl]^-、[M-H₂O-H]^-、[M+FA-H]^-、[M+Na-2H]^-、[2M-H]^2-、[M+Na-2H]-、[M+Na-2H]^2-、[M+NH₃-H]^-、[M-2H]^2-、[M+K-2H]^-；

4)经解卷积的样品数据扣除空白溶剂后，对解卷积得到的二级质谱信息进一步过滤：选取碎片离子丰度前10强的离子，并扣除与母离子相差小于12Da的碎片离子，最终得到乳粉基粉正离子二级质谱数据库和乳粉基粉负离子二级质谱数据库。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

1)每克乳粉加入125ml去离子水配制混合乳液；

2)混合乳液和冰乙腈的体积比为1：3，提取的上清液的量为混合液的1/5～1/4，脱脂处理的方法为使用除脂萃取管进行脱脂；

3)MgSO₄的加入量为剩余液体量的质量比1/7～1/6；NaCl的加入量为剩余液体的质量比1/35～1/30；取上清液的量约为盐析后溶液体积的1/4～1/3；

4)提取的上清液的量为混合液的1/3～1/2，氮气吹干时的温度为40℃，所述的滤器为Mini-UniPrep非针头式滤器。