[发明专利]硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置，其方法包括：获取第一指令，其中，第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；获取第一指令的第一信息；基于硬盘信息将第一指令发送给目标硬盘；获取到目标硬盘在基于第一指令执行完目标处理之后，返回的第一指令响应；获取第一指令响应的第二信息；基于第一发送时间与第二发送时间的时间差以及处理量确定目标硬盘的性能。通过本发明，解决了相关技术中硬盘性能检测不准确的问题，进而达到了提高硬盘性能检测准确性的效果。

技术领域

本发明实施例涉及通信领域，具体而言，涉及一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置。

背景技术

目前的硬盘性能测试主要通过dd(data description，数据描述),fio(flexibleIO tester，可适性IO测试工具)等用户态开源测试工具进行测试，配置不同的测试参数，包括顺序读写，随机读写，大块读写，小块读写，混合读写等，根据这些测试工具输出的相应数据，并分析相应的测试结果。很多自动化硬盘性能测试基本都是采用脚本的方式一键运行多个测试指令，并输出相应结果。

现有的硬盘性能测试时获取的数据一般是通过block层(块设备层)统计得到，或通过用户态计算得到，数据在获取过程中受不同文件系统的差异影响，使得不同block层的策略处理结果不同，从而导致得出的硬盘性能数据不准确。

发明内容

本发明实施例提供了一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中硬盘性能数据检测不准确的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种硬盘性能检测方法，包括：

获取第一指令，其中，所述第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；

获取所述第一指令的第一信息，其中，所述第一信息包括发送所述第一指令的第一发送时间、所述目标硬盘的硬盘信息以及所述目标处理对应的处理量；

基于所述硬盘信息将所述第一指令发送给所述目标硬盘；

获取到所述目标硬盘在基于所述第一指令执行完所述目标处理之后，返回的第一指令响应；

获取所述第一指令响应的第二信息，其中，所述第二信息包括所述目标硬盘发送所述第一指令响应的第二发送时间；

基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量确定所述目标硬盘的性能。

在一个示例性实施例中，在所述获取第一指令之前，所述方法还包括以下之一：

统计所述目标硬盘执行历史处理所对应的总处理量，在所述总处理量达到目标阈值的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作；

在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。

在一个示例性实施例中，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作包括：

在接收到按照预定发送周期发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。

在一个示例性实施例中，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作还包括：

在接收到在预定触发条件下发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作，其中，所述预定触发条件包括所述目标硬盘首次启动。

在一个示例性实施例中，所述预定触发条件还包括：

所述目标硬盘插入到目标设备上，其中，所述目标设备具备热插拔硬盘的功能。